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日本理學(xué)ZSX Primus III+ X射線熒光光譜儀

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更新時(shí)間：2021-06-24 17:29:36瀏覽次數(shù)：206次

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日本理學(xué)ZSX Primus III+ X射線熒光光譜儀可在慢速和快速直接切換抽真空和卸真空速率，使粉末和金屬樣品的樣品處理量達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)形式，真空室內(nèi)飄散粉末損壞光管的風(fēng)險(xiǎn)

詳細(xì)介紹

日本理學(xué)ZSX Primus III+ X射線熒光光譜儀可在慢速和快速直接切換抽真空和卸真空速率，使粉末和金屬樣品的樣品處理量達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)形式，真空室內(nèi)飄散粉末損壞光管的風(fēng)險(xiǎn)，以很少的標(biāo)準(zhǔn)在各種樣品類型中快速定量測(cè)定從氧氣（O）到鈾（U）的主要和次要原子元素，具有創(chuàng)新的光學(xué)上述配置，由于樣品室的維護(hù)，再也不用擔(dān)心被污染的光束路徑或停機(jī)時(shí)間。光學(xué)元件以上的幾何結(jié)構(gòu)消除了清潔問(wèn)題并延長(zhǎng)了使用時(shí)間，并且無(wú)需在進(jìn)行粉末樣品分析時(shí)使用粘合劑，使樣品制備更快捷簡(jiǎn)便。

產(chǎn)品特點(diǎn)：
1、操作界面簡(jiǎn)潔、自動(dòng)化程度高；
2、元素從O到U的分析；
3、樣品室可簡(jiǎn)單移出方便清潔；
4、管道上方的光學(xué)器件使污染問(wèn)題最小化；
5、特殊光學(xué)系統(tǒng)減少樣品表面不平而引起的誤差；
6、占地面積小，使用的實(shí)驗(yàn)室空間有限；
7、精度定位樣品臺(tái)滿足合金分析高精度要求；
8、統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制軟件工具（SPC）吞吐量可以優(yōu)化疏散和真空泄漏率。

日本理學(xué)ZSX Primus III+ X射線熒光光譜儀在處理樣品的時(shí)候精度定位確保樣品表面與X射線管之間的距離保持恒定，這對(duì)于要求高精度的應(yīng)用很重要，例如合金分析。ZSX Primus III +采用*的光學(xué)配置進(jìn)行高精度分析，可實(shí)現(xiàn)粉末、固體樣品不同元素不同含量的高精度分析。