TO薄膜是一種n型半導體材料，具有高的導電率、高的可見光透過率、高的機械硬度和良好的化學穩定性。它是液晶顯示器（LCD）、等離子顯示器（PDP）、電致發光顯示器（EL/OLED）、觸摸屏（TouchPanel）、太陽能電池以及其他電子儀表的透明電極常用的薄膜材料。ITO薄膜是一種很薄的金屬薄膜，在透明導電薄膜方面得到普遍的應用，具有廣闊的前景。但薄膜的厚度是否均勻直接關系到企業的生產成本控制，所以對ITO薄膜厚度的高精度測量，是企業必須重視的檢測項目之一。

濟南新準生產的CHY-C2A測厚儀適用于ITO薄膜厚度測量采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性，測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的系統誤差，系統自動進樣，進樣步距、測量點數和進樣速度等相關參數均可由用戶自行設定，實時顯示測量結果的大值、小值、平均值以及標準偏差等分析數據，方便用戶進行判斷。 

ITO薄膜厚度測量儀 全自動膜厚儀臺式測厚儀 技術指標

測試范圍 0～2 mm（常規） 0～6 mm；12 mm（可選）

分辨率 0.1 μm

測量速度 10 次/min （可調）

測試壓力 17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（紙張）

接觸面積 50 mm2（薄膜）；200 mm2（紙張）

注：薄膜、紙張任選一種；非標可定制

進樣步距 0～1000 mm

進樣速度 0.1～99.9 mm/s

電源 AC 220V 50Hz

外形尺寸 461 mm(L)× 334 mm(W)× 357 mm(H)

凈重 32 kg

ITO薄膜厚度測量儀 全自動膜厚儀臺式測厚儀 產品配置：主機、標準量塊一件、專業軟件、通信電纜、測量頭