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BET比表面測(cè)試儀

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產(chǎn)品型號(hào)F-Sorb 2400CE

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更新時(shí)間：2018-09-26 22:06:47瀏覽次數(shù)：573次

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北京金埃譜科技有限公司

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產(chǎn)品簡介

F-Sorb 2400CE比表面儀采用氮吸附連續(xù)流動(dòng)法測(cè)量原理，對(duì)于生產(chǎn)企業(yè)來說，是臺(tái)理想的質(zhì)檢型比表面儀，因?yàn)榭蛇M(jìn)行直接對(duì)比法比表面測(cè)試及BET（Brunauer-Emmett-Teller）法比表面分析。BET法是上*且是目前世界上采用多的氮吸附比表面積測(cè)試方法，被國內(nèi)外廣泛采用。

詳細(xì)介紹

F-Sorb X400CE系列比表面積及孔徑分析測(cè)試（測(cè)定）儀是北京金埃譜科技公司與兵器系統(tǒng)研究機(jī)構(gòu)合作研發(fā)的新一代產(chǎn)品，能夠*實(shí)現(xiàn)測(cè)試過程自動(dòng)化、智能化的產(chǎn)品，符合上現(xiàn)代化儀器制造標(biāo)準(zhǔn)和潮流，大大減輕了測(cè)試人員的工作量；多項(xiàng)*技術(shù)的采用使產(chǎn)品整體性能更加完善，測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和*性進(jìn)一步提高，測(cè)試過程的穩(wěn)定性更好。產(chǎn)品設(shè)計(jì)基于兵器系統(tǒng)高可靠性要求，通過采用合資或進(jìn)口零配件，大大提高了產(chǎn)品可靠性和使用壽命；同時(shí)F-Sorb X400CE系列比表面積分析測(cè)試儀產(chǎn)品的高性價(jià)比有效保障了用戶的投資利益，靈活的產(chǎn)品配置可滿足不同用戶的不同需求,可廣泛適用于粉體顆粒類材料的比表面積及孔徑分析測(cè)試及生產(chǎn)質(zhì)量監(jiān)測(cè)。

測(cè)試方法：氮吸附連續(xù)流動(dòng)法，直接對(duì)比法比表面積分析測(cè)定，BET(Brunauer-Emmett-Teller)比表面積（多點(diǎn)及單點(diǎn)）分析測(cè)定，Langmuir比表面積分析測(cè)試，平均粒徑估算炭黑外比表面積分析測(cè)試，樣品吸附常數(shù)C測(cè)定；
測(cè)量范圍：0.005(㎡/g)-至無上限(比表面積) ；
測(cè)試精度：測(cè)量重復(fù)性誤差≤1.5%；
流量調(diào)節(jié)：金埃譜技術(shù)F-Sorb型微型步進(jìn)電機(jī)流量自動(dòng)調(diào)節(jié)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)BET測(cè)試時(shí)各P/P₀點(diǎn)流量按需調(diào)節(jié)，流量值由軟件自動(dòng)采集，并可在軟件測(cè)試界面中實(shí)時(shí)顯示；
測(cè)試操控：無需使用電腦，嵌入式系統(tǒng)，直接觸摸屏操作，并可USB外接鍵盤和鼠標(biāo)操作；通過RS232通訊可外接電腦，可同時(shí)在外接電腦上運(yùn)行軟件進(jìn)行測(cè)試，一體式操作和電腦操作模式*結(jié)果，給用戶提供靈活的選擇；
防護(hù)措施：外部配置有防護(hù)門，*杜絕了因液氮飛濺而對(duì)實(shí)驗(yàn)操作人員造成的傷害；防護(hù)門的配置，大大減少液氮的揮發(fā)，增加的液氮使用時(shí)間，減少了使用成本；更為重要的是非常有效減少了因外界氣流變化而對(duì)測(cè)試實(shí)驗(yàn)的影響，大大提升了儀器的測(cè)試穩(wěn)定性和精度；
定量標(biāo)定：軟件控制技術(shù)F-Sorb型定量管自動(dòng)進(jìn)行定量氣體脫附，實(shí)現(xiàn)樣品脫附峰面積自動(dòng)標(biāo)定，無需人工手動(dòng)轉(zhuǎn)換氣路；
管路密封：采用高真空系統(tǒng)不銹鋼管路，高密封性能，有效防止氣體分子滲透導(dǎo)致的比表面積測(cè)試誤差；同時(shí)不銹鋼管不存在老化問題，大大提高可靠性和壽命；
樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等，適用于幾乎所有樣品比表面積分析測(cè)定，應(yīng)用廣泛；
樣品數(shù)量：可同時(shí)進(jìn)行4個(gè)樣品的比表面積分析測(cè)試，樣品測(cè)試系統(tǒng)和樣品處理系統(tǒng)相互獨(dú)立,并且樣品測(cè)試和樣品脫氣處理可以同時(shí)進(jìn)行,避免了測(cè)試管路受到污染,從而進(jìn)一步確保測(cè)試的精度和提高儀器使用壽命；
測(cè)試氣體：載氣為高純He氣,吸附質(zhì)為高純N₂或其它（按需選擇如Ar，Kr）；
測(cè)試時(shí)間：每樣品每 P/P₀點(diǎn)吸附和脫附平均時(shí)間為5分鐘，比表面積結(jié)果自動(dòng)由軟件實(shí)時(shí)得出；
測(cè)試壓力：常壓下進(jìn)行，無需抽真空，有利于快速的比表面積分析測(cè)試；
數(shù)據(jù)采集：高精度及高集成度數(shù)據(jù)采集及處理芯片，誤差小，抗*力強(qiáng)，有利于提高比表面積結(jié)果精度；
數(shù)據(jù)處理：Windows兼容數(shù)據(jù)處理軟件，功能完善，操作簡單，多種模式數(shù)據(jù)分析，圖形化比表面積分析測(cè)試數(shù)據(jù)結(jié)果報(bào)表；
控制系統(tǒng)：采用*的控制技術(shù)，集中的多功能控制系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)測(cè)試過程的*自動(dòng)化，智能化，大大提高比表面積分析測(cè)定效率。