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韋氏納米系統(深圳)有限公司
低溫探針臺CPS-xxx-CF系列是一款成本低、穩定、可靠和方便的低溫半導體測試甚至低溫晶圓級別測試器件的低溫探針臺系統
低溫探針臺CPS-xxx-CF系列是一款成本低、穩定、可靠和方便的低溫半導體測試甚至低溫晶圓級別測試器件的低溫探針臺系統。內置振動隔離,智能熱管理和工程熱膨脹補償使低溫探針臺系統非常適合于寬范圍從納米電子學應用(石墨烯的研究,分子電子學,量子計算等)以空間為基礎的電子測試。
規格:
試樣尺寸:25、50mm、100mm、150mm或200mm可選
無冷閉式循環制冷機(S):包括冷頭、壓縮機、制冷機和所需的氦氣軟管。
溫度范圍:標準10K~400K,4.2K到480k可供選擇
溫度精度:0.1k或更好
熱探針臂和輻射屏蔽
卡盤和探針臂的溫度監測
輻射屏蔽和cryohead溫度監測是可選的。
真空壓力
窗口材料:熔融石英,定制的材料和涂料是可用的。
相機:數碼相機從1像素到10像素。圖像和視頻采集軟件以及尺寸測量能力
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