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TP-LOS1 CCD綜合實驗系統

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更新時間：2021-06-10 22:15:03瀏覽次數：371次

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產品簡介

TP-LOS1 CCD綜合實驗系統

詳細介紹

儀器介紹
TP-LOS1 CCD綜合實驗系統是在《光電子學》課程重要章節《CCD原理與應用》的基礎上開發的綜合實驗。該實驗采用模塊化、開放式設計，直觀展現了線陣、面陣CCD的工作原理，并且設置了工程實踐常用的測試項目實驗，是學生認識和理解CCD工作原理與應用實際的理想教學實驗系統。

實驗內容
線陣：
1.         線陣CCD驅動實驗
2.         線陣CCD特性測量實驗
3.         線陣CCD二值化實驗
4.         工件直徑測量實驗
5.         角位測量實驗

面陣：
1．面陣CCD驅動實驗
2．面陣CCD特性測量實驗
3．面陣CCD數據采集實驗
4．圖像點運算實驗
5．工件二維尺寸測量實驗
6．印刷品顏色檢測實驗

知識點
CCD基本工作原理、轉移效率、移動損失率、工作頻率、光電轉移特性、光譜響應、動態范圍、暗電流、分辨率、積分時間、CCD驅動時序、CCD信號處理與計算機數據采集

配置表及規格參數

名稱	規格	數量
光源	半導體激光器：P＞2mW，λ=650nm，模式TEM₀₀，直徑Φ3mm單模鎧甲光纖，纖芯4μm，NA0.12 LED光源：白光/三色LED，P＞1W ，亮度連續可調	1套
光學組件	鏡頭：f=16mm，F1.4 透鏡：Φ25.4mm，應用波長：400nm-700nm 光學平板：K9玻璃，Φ50mm，D20mm 狹縫：Φ25，縫寬200μm，縫長20mm	1套
探測器組件	線陣CCD：二相線陣CCD，工作電壓5V，像素單元2160x1，像素單元大小14μm14μm，USB數字接口及信號測試接口面陣CCD：彩色面陣CCD，工作電壓5V，有效像素單元752x582，像素單元大小6.5μm（H）6.25μm(V)，USB數字接口及信號測試接口	1套
測試組件	電氣面包板：12芯數據接口，驅動脈沖測試端，二值化信號測試端，CCD模擬信號測試端，電壓調節端，光源調節旋鈕	1套
數據軟件	USB驅動程序，信號采集及顯示模塊，系統參數標定模塊，直徑測量模塊，厚度測量模塊，角位置測量模塊，印刷品顏色檢測模塊，圖像點運算模塊（圖像反色、灰度線性變換、直方圖）	1套
其他	實驗講義	1套
需另配	計算機及打印機	1套