深圳市華科智源科技有限公司
詳細摘要： 分立器件測試儀設備擴展性強，通過選件可以提高電壓、電流和測試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條件點擊即可完成測試任務。系統采用帶有開爾文感應結構的測...
產品型號：HUSTEC-DC-2010所在地：深圳市更新時間：2024-05-13 在線留言
詳細摘要： 品牌： 華科智源 名稱： SIC動態參數測試儀 型號： HUSTEC-3000 用途： SIC器件，MOS管， IGBT測試
產品型號：hustec-3000所在地：更新時間：2023-08-08 在線留言
詳細摘要： 掃描顯微鏡是一種利用傳播媒介的無損檢測設備。在工作中采用反射或者透射等掃描方式來檢查元器件、材料、晶圓等樣品內部的分層、空洞、裂縫等缺陷。
產品型號：UTScan400所在地：更新時間：2023-08-08 在線留言
詳細摘要： 華科智源-功率循環老化設備主要是針對IGBT/SIC的封裝可靠性行進行實驗,通過控制實驗條件再現IGBT封裝的主要兩種失效方式:鍵合線失效和焊料層老化。實驗的關...
產品型號：GKH-PC-3000A所在地：更新時間：2023-04-04 在線留言
詳細摘要： 華科智源HUSTEC-1600A-MT電參數測試儀可用于多種封裝形式的 IGBT測試，還可以測量大功率二極管 、IGBT模塊，大功率 IGBT、大功率雙極型晶體...
產品型號：HUSTEC-1600A-MT所在地：更新時間：2023-04-04 在線留言
詳細摘要： 功能及主要參數： 適用碳化硅二極管、IGBT模塊\MOS管等器件的時間參數測試。
產品型號：HUSTEC-3000所在地：更新時間：2023-04-04 在線留言
詳細摘要： 品牌： 華科智源 名稱： 浪涌電流測試儀 型號： HUSTEC-IFSM-1200A 用途： 浪涌電流是指電源線接通瞬間或是在電路出現異常情況下產生的遠大于穩態...
產品型號：HUSTEC-IFSM-1200A所在地：深圳市更新時間：2023-03-29 在線留言
詳細摘要： ITC55100雪崩能量測試儀是原成功產品ITC5510的升級版本，它能執行ITC5510系列的所有測試，同時增加了許多功能，如提高測試精度，測試結果的收集，查...
產品型號：ITC55100所在地：深圳市更新時間：2023-03-29 在線留言
詳細摘要： IGBT雙脈沖測試平臺該設備用于功率半導體模塊（IGBT、FRD、肖特基二極管等）的動態參數測試，以表征器件的動態特性，通過特制測試夾具的連接，實現模塊的動態參...
產品型號：PT-1224所在地：深圳市更新時間：2023-03-29 在線留言
詳細摘要： 華科智源結電容測試儀，可以測試MOS管，IGBT，SIC器件的柵極電阻和柵極電容，包含Ciss 輸入電容 Coss 輸出電容 Crss 反向電容，Rg等參數，可...
產品型號：HUSTEC-CV-1200所在地：深圳市更新時間：2023-03-29 在線留言
詳細摘要： HUSTEC-1600A-MT電參數測試儀可用于多種封裝形式的 IGBT測試，還可以測量大功率二極管 、IGBT模塊，大功率 IGBT、大功率雙極型晶體管，MO...
產品型號：HUSTEC-1600A-MT所在地：深圳市更新時間：2023-03-29 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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