合金分析是鑒定樣品化學成分的過程。使用X射線熒光（XRF）光譜儀，不僅能準確檢測整個合金材料的元素組成，而且還能快速確定合號PMI（Positive material identification）。EDX9000A已廣泛用于各種需要合金成分分析的行業，從航空航天測試，原材料分析，質量控制，冶煉，金屬加工，焊接，到廢料回收和快速分類篩檢等領域。
作為一款高性能的臺式能量色散X射線熒光光譜儀，新款EDX9000A配置了的基于Windows基本參數算法的FP（Fundamental parameter）軟件。FP軟件是合金分析的條件之一，FP算法能大幅降低合金樣品中各金屬元素間的吸收增強效應，從而來滿足客戶對于各類復雜合金樣品的元素分析需求。
EDX9000A結合了的樣品激發和信號檢測技術，使得它的分析性能可以與實驗室分析結果相媲美。通過配備不同濾光片和光路準直器，高功率X射線管，以及美國Amptek的SDD硅漂移檢測器，EDX9000A實現了化的硬件組合。
選擇金屬合金分析儀時，客戶通常會重點關注測試準確性，分析速度和設備耐用性，而EDX9000A是對上述三點指標的體現。同時，該光譜儀能同時對多種不同類型的合金進行快速定性定量分析，包括：鎂合金 鋁合金 鈦合金 高合金鋼 中低合金鋼 工具鋼貴金屬鈷合金 鎳合金 銅合金 鋅合金 貴重合金 黃銅 青銅 焊錫等
EDX9000A操作簡單，分析性能出色，還可拓展到以下應用
>涂層厚度和薄膜：分析多層涂層，鋼涂層，雜質等
>電鍍液元素分析
>催化劑貴金屬元素分析
產品特點
作為一款專業為合金元素分析而設計和生產的光譜儀，EDX-9000A兼顧了耐用性，易于操作和高性價比。其顯著優勢主要有
?更快---全程無損分析，一到三分鐘即可出結果（可實時刷新測試結果）
?更準---強大的基于Windows的FP（基本參數算法）軟件降低了基體元素間吸收增強效應，并同時考慮到不同基體對光譜強度變化的干擾，把測試準確度提高到了新的水平
?更穩---使用的硅漂移檢測器SDD可得到更好的測試穩定性和長期重復性，該款檢測器可在相同樣品激發條件下獲得更高的光譜強度（計數率CPS）。*的多道分析器DPP可實現超過100,000 cps的線性計數速率而同時保證的光譜分辨率，通常優于130 eV，以更好地分離不同元素的光譜。與傳統的EDXRF臺式儀器相比，EDX9000A光譜儀可以全功率運行，因此實現了更精準的測試表現
?無需消耗昂貴的氬氣或者氦氣，極大的降低了儀器的使用和維護成本
?無需或者很少的樣品制備，通常簡單的拋光樣品表面后即可上機測試
?不需要每天標定儀器，開機即可檢測，大大提高生產效率，并降低了對標準樣品的依賴
?多重儀器硬件保護系統，并可通過軟件進行全程實時監控, 讓儀器工作更穩定、更安全
?特別設計的光路和真空系統提高了輕元素的測試靈敏度3-5倍(Na, Mg, Al, Si, P)
?友好的用戶界面，可定制的分析報告，可一鍵打印測試報告，包括分析結果，樣品信息，光譜信息和樣品圖像
?八種光路準直系統，根據不同樣品大小自動切換，亦可測試樣品不同位置再求平均值，降低樣品不均勻性造成的誤差
?高清內置攝像頭，清晰地顯示儀器所檢測的樣品部位
合金元素檢測專家EDX9000A
>儀器參數
儀器外觀尺寸: 560mm*380mm*410mm |
超大樣品腔：460mm*310mm*95mm |
半封閉樣品腔（抽真空時）：Φ150mm×高75mm |
儀器重量: 45Kg |
元素分析范圍：Na11-U92硫 到 鈾 |
可分析含量范圍：1ppm- 99.99% |
探測器：AmpTek 高分辨率電制冷SDD硅漂移檢測器 |
多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器 |
X光管：50W高功率鈹窗光管 |
高壓發生裝置：電壓輸出50kV，自帶電壓過載保護 |
電壓：220ACV 50/60HZ |
環境溫度：-10 °C 到35 °C |
儀器配置
>標準配置 | >可選配置 |
純Ag初始化標樣 | 交流凈化穩壓電源 |
真空泵 | 合金標樣 |
樣品杯 |
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USB數據線 |
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電源線 |
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測試薄膜 |
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儀器出廠和標定報告 |
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保修卡 |
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