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深圳市創(chuàng)鑫儀器有限公司
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UV-A紫外輻照計(單通道) UV-A型紫外輻照計采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。該儀器適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。產品特點:
UV-A紫外輻照計(單通道)
UV-A型紫外輻照計采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。該儀器適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
產品特點:
* 光譜及角度特性經嚴格校正
* 數字液晶顯示，帶背光
* 手動/自動量程切換
* 數字輸出接口（USB冗余供電）
* 低電量提醒
* 自動延時關機
* 有數字保持
* 輕觸按鍵操作，蜂鳴提示
主要技術指標:
| 探頭（二選其一）： | UV-420nm 探頭 | UV-365nm 探頭 | |
| 波長范圍及峰值波長: | λ：(375～475)nm；λP＝420nm | λ：(320～400)nm；λP＝365nm | |
| 紫外帶外區(qū)雜光： | UV420：小于0.02% | UV365：小于0.02% | |
| 輻照度測量范圍： | (0.1～199.9×103) μW/cm2 | ||
| 相對示值誤差： | ±10%（相對與NIM標準） | ||
| 角度響應特性： | ±5%(α ≤10°) | ||
| 線性誤差： | ±1% | ||
| 短期不穩(wěn)定性： | ±1%（開機30min后） | ||
| 響應時間： | 1秒 | ||
| 使用環(huán)境： | 溫度(0～40)℃，濕度＜85%RH | ||
| 尺寸和重量： | 160mm×78mm×43mm；0.2kg | ||
| 電源： | 常規(guī)使用6F22型9V積層電池一只 | ||
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