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廣州昌利信科學儀器有限公司
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日立高新HITACHI（精工）SⅡ SFT-110型 X射線熒光鍍層厚度測量儀
日立高新HITACHI（精工）SⅡ SFT-110型 X射線熒光鍍層厚度測量儀
日立高新HITACHI（精工）（SEA1000S、SEA1000A、SEA1000AⅡ、SEA1200VX、SEA6000VX，均能升級至測定鹵素，膜厚儀SFT-110、SFT9300、SFT9500）,SFT-110系列產品,搭載了高性能X射線管，實現了高精度的測定。SFT-110極微小準直管和可變焦距光學系統的組合，實現了對極微小部分的測定。對有段差的樣品也適用。
1．SFT-110搭載了50W高性能X射線管。
2．SFT-110搭載標準的Φ50μm微小準直管（zui小Φ15μm）。
3．容易對微小領域進行觀察。SFT-110搭載了能4階段切換的可變焦距光學系統。
4．依據照明能很容易對以前觀察困難的樣品進行觀察。
5．FT-110搭載了防止有凹凸的樣品碰撞的傳感器。
6．搭載了焦點切換功能，SFT-110能夠對有高度的樣品的低部分進行測定。
7．SFT-110利用伺服馬達精確的驅動平臺。
7．SFT-110運用激光聚焦功能簡單實現位置的調整。
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