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I試片
定量品質試片
(I)是帶有人工缺陷的標準磁粉檢測試片,I試片用于
1.將激磁次數降至zui少,以提高生產效率
2.確定磁場方向和相對的磁場強度
3.平衡多向磁場
a)標準I試片
缺陷呈基圓和十字交叉條形,適用于縱向和周向磁場
件號:519630 型號:KSC-230
件號:521048 型號:KSC-430
說明:
標準I試片,缺陷深度為試片厚度的30%,試片厚度為0.002英寸標準I試片,缺陷深度為試片厚度的30%,試片厚度為0.004英寸
b)小型I試片
與KSC-230相似,于工件上的小區域,每片四個圓,可切割開,單獨使用
件號:519631
型號:KSC-4-230
說明:小型I試片,每片試片有4個基圓,缺陷深度為試片厚度的30%,試片厚度為0.002英寸
c)不同深度的I試片
用于定量要求更高的作業,缺陷呈三個不同深度的同心圓環
件號:519632 型號:KSCT-234
說明:不同深度I試片,缺陷深度分別為試片厚度的20%,30%,40%,試片厚度為0.002英寸,試片背面帶膠,可直接貼在工件上
件號:521049 型號:KSC4-234
不同深度I試片,缺陷深度分別為試片厚度的20%,30%,40%試片厚度為0.004英寸
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