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東莞市好邁電子科技有限公司
FT160為微型電子器件的微焦斑分析,這款不會過時的儀器,專為微焦斑和超薄鍍層分析而設計,可應對日益小型化的電子行業及PCB板鍍層的挑戰
項目 | 描述 |
---|---|
X射線照射方向 | 上方照射式 |
測量元素 | Al (13) ~ U(92) |
靶材 | 鎢(W) target、鉬(Mo) target |
測定環境 | 大氣 |
X射線發生部 | 45kV, 鉬Mo 靶材 |
設計 | 毛細管聚焦Poly-capillary |
管電流 | 1000μA 可變 |
X射線檢測部 | Silicon Drift Detector (SDD) |
測定面積 | φ0.030mm(FWHM 0.017mm) |
樣品面積 | FT160長400mm×寬300mm×高100mm FT160L 600mm x 600mm專用款 |
電動XY樣品臺驅動移動范圍 | 400×300mm |
CCD Camera | 高質量相機可變焦16倍 |
對焦模式 | 雷射自動對焦 |
測量模式 | Thin Film FP (5層, 10元素)/檢量線法 |
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