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上海千實(shí)精密機(jī)電科技有限公司
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所 在 地上海市
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更新時(shí)間：2015-11-19 09:15:05瀏覽次數(shù)：279次
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上海千實(shí)有限公司專業(yè)供應(yīng)靜電衰減測(cè)試儀/靜電測(cè)試儀等各種功能性測(cè)試儀器。以合理的價(jià)格，過硬的質(zhì)量，快捷的貨期及*的售前咨詢、售中指導(dǎo)、售后服務(wù)，在為廣大客戶提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品。我們將堅(jiān)持不懈地探索創(chuàng)新，注重新產(chǎn)品開發(fā)，使技術(shù)、品質(zhì)更臻完善，為社會(huì)奉獻(xiàn)更多的新產(chǎn)品。
產(chǎn)品詳細(xì)：
406D靜電衰減測(cè)試儀采用直流充電法，是符合美國(guó)軍標(biāo)方法4046的一套完整的材料靜電特性測(cè)試系統(tǒng)。該設(shè)備是符合美軍標(biāo)MIL-PRF-81705D規(guī)范用于檢測(cè)材料是否合格的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備。406D符合美國(guó)無紡布靜電衰減測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IST 40.2(01)、美國(guó)聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)FED-STD-101C(Method 4046)、美國(guó)軍標(biāo)MIL-B-81705C、中國(guó)GB 19082，中國(guó)軍標(biāo)GJB2625。
406D配置的磁吸棒用于薄膜和布匹材料的測(cè)試;金屬夾具可以測(cè)試較厚的塊狀物、發(fā)泡物或其他形狀和質(zhì)地的材料。選配IC管型夾具可以無損測(cè)試IC芯片包裝管;選配806B無損測(cè)試電極可以直接放置在試樣上，還可以測(cè)試粉體和液體靜電衰減時(shí)間。
配套法拉第測(cè)試籠提供一個(gè)屏蔽空間，試樣放置在法拉第籠內(nèi)進(jìn)行測(cè)試，法拉第籠通過配套連接線連接406D主機(jī)。法拉第籠具有互鎖裝置，打開法拉第籠時(shí)，高壓電源輸出被切斷。
STM-2驗(yàn)證模塊提供一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的電阻，電容直接采取系統(tǒng)電容。通過測(cè)試STM-2標(biāo)準(zhǔn)模塊可以驗(yàn)證是否正常。
位于法拉第籠內(nèi)的靜電壓探測(cè)頭可以卸下，放置在806B無損電極上后，可以直接測(cè)試粉體、液體和固體試樣。
符合標(biāo)準(zhǔn)：美國(guó)無紡布靜電衰減測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IST 40.2(01)，
美國(guó)聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)FED-STD-101C(Method 4046)，
美國(guó)軍標(biāo)MIL-B-81705C，
美軍標(biāo)MIL-PRF-81705D，
中國(guó)GB 19082，
中國(guó)軍標(biāo)GJB2625
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