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深圳市奔藍科技有限公司
BowmanBA-100Optics臺式X射線熒光(XRF)鍍層測厚儀供應美國博曼BowmanX射線測厚儀鍍層測厚儀膜厚測量儀深圳市奔藍科技有限公司總代理美國博曼BowmanX射線鍍層測厚儀及輔助配件!相比費希爾、牛津儀器和精工測厚儀更有的表現!價格更實惠,軟件人性化設計,極力推薦產品!并供應美國CalMetrics鍍層標準片,都附有可以追溯到美國NIST認證的證書
Bowman BA-100 Optics 臺式X射線熒光(XRF)鍍層測厚儀
供應美國博曼Bowman X射線測厚儀 鍍層測厚儀 膜厚測量儀
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博曼Bowman鍍層測厚儀,專業用于PCB電路板行業和要求的表面處理行業使用。
機器可以測量更小的面積,更多層的鍍層,更薄的鍍層厚度,測量數據非常穩定。
品牌:博曼Bowman 型號:BA-100 Optics 博曼Bowman中國區總代理
美國博曼(Bowman)Bowman BA-100 Optics 臺式X射線熒光(XRF)鍍層測厚儀——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析,以及電鍍液分析。
Bowman BA-100 Optics 機型采用業界的多孔毛細管光學聚焦裝置,有效縮小測量點斑點的同時,可數倍乃至數十倍提高X射線激發強度。
Bowman BA-100 Optics 機型配備大面積的SDD(硅漂移探測器),有效拓展元素分析范圍,適應的微區、超薄鍍層,以及痕量元素分析需求。
優秀的測試性能、突出的微區測量能力,Bowman BA-100 Optics機型是研究開發、質量管控的XRF鍍層厚度及元素成分分析儀器。
穩定的X射線管
多毛細管聚焦光學結構
性能與可操作性的化
簡單的設計、強大的分析能力
直觀的用戶界面
常見的鍍層應用:
線路板 :Au/ENi/CuPCB(ENIG);Ag或Sn/CuPCB;Au/Pd/Ni/PCB
引線框架和連接器 :Au/Pd/Ni/Cu Alloys;Au/Ni/Ni/Fe; Ag/Cu; Au/Pd/Ni/CuFe
半導體行業:Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材;Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材
線材:Sn/Cu
通訊和數據儲存設備 :NiP/Al ;Ag/Cu;Ag/Ni/Cu
珠寶、貴金屬 : 10,14,18Kt
元素分析、合金分類、雜質分析、溶液分析、電鍍液分析等
十多年來,深圳奔藍科技一直服務于PCB 廠商、五金電鍍、連接器、LCD、科研機構、高校、質量檢測中心、半導體、微電子、光電子、光通訊等領域。我們提供高質量的產品和質的服務都得到客戶的獎勵,在未來,我們將繼續履行客戶的期望、要求和需要。
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