濟(jì)寧聯(lián)永超聲電子有限公司
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詳細(xì)摘要： 一、概述LY518AC-220型磁軛式磁粉探傷儀是小型便攜式無損檢測(cè)的專用儀器，是采用磁場(chǎng)磁化工件的原理設(shè)計(jì)而成的小型無損檢測(cè)儀器，具有對(duì)被探工件的裂紋顯示清晰...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2025-02-08 在線留言
詳細(xì)摘要： 一、儀器特點(diǎn)：LW-100型渦流涂層測(cè)厚儀是的結(jié)晶，它采用單片機(jī)技術(shù)，精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、觸摸按鍵、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量...
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詳細(xì)摘要： 一.概述LWF-200涂鍍層測(cè)厚儀采用磁性、渦流兩種測(cè)厚方法，可無損傷地檢測(cè)磁性金屬基體（如：鐵、鋼、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如：鋅、鋁、鉻、銅、...
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詳細(xì)摘要： 一、概述LYT-2008涂鍍層測(cè)厚儀采用磁性測(cè)厚方法，可無損傷檢測(cè)磁性金屬基體（如：鐵、鋼、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如：鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆...
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詳細(xì)摘要： 一.概述LWF-200涂鍍層測(cè)厚儀采用磁性、渦流兩種測(cè)厚方法，可無損傷地檢測(cè)磁性金屬基體（如：鐵、鋼、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如：鋅、鋁、鉻、銅、...
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詳細(xì)摘要： 一、儀器特點(diǎn)：LYT-2001型涂（鍍）層測(cè)厚儀是的結(jié)晶,它采用單片機(jī)技術(shù)，精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、觸摸按鍵、單探頭全量程測(cè)量、體積小...
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詳細(xì)摘要： 一.概述：AD-117儀器是智能型超聲波測(cè)厚儀
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詳細(xì)摘要： 一.概述AD-107智能型超聲波測(cè)厚儀，主要用于測(cè)量硬質(zhì)材質(zhì)的厚度，如：鋼鐵、不銹鋼、鋁、銅等金屬材料，及塑料、橡膠、陶瓷、玻璃等非金屬
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詳細(xì)摘要： 一．概述本儀器是智能型超聲波測(cè)厚儀，采用的高性能、低功耗微處理器技術(shù)，基于超聲波測(cè)量原理，可以測(cè)量金屬及其它多種材料的厚度，并可以對(duì)材料的聲速進(jìn)行測(cè)量
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詳細(xì)摘要： 一、儀器特點(diǎn)：LYT-2002型涂（鍍）層測(cè)厚儀是的結(jié)晶,它采用單片機(jī)技術(shù)，精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、無校正旋鈕、單探頭全量程測(cè)量、體積...
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詳細(xì)摘要： 一、儀器特點(diǎn)：LF系列數(shù)字式涂層測(cè)厚儀是的結(jié)晶
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詳細(xì)摘要： 一、儀器特點(diǎn)：LF系列數(shù)字式涂層測(cè)厚儀是的結(jié)晶
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詳細(xì)摘要： 一、儀器特點(diǎn)：LYT-2002型涂（鍍）層測(cè)厚儀是的結(jié)晶,它采用單片機(jī)技術(shù)，精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、無校正旋鈕、單探頭全量程測(cè)量、體積...
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詳細(xì)摘要： 一、特點(diǎn)：HT20A特斯拉計(jì)/高斯計(jì)可以隨身攜帶方便操作人員準(zhǔn)確地測(cè)定直流磁場(chǎng)的磁感應(yīng)強(qiáng)度
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詳細(xì)摘要： 一、用途：JCZ-50磁強(qiáng)儀用于鐵磁性材料和零部件在加工使用過程中，直接測(cè)量被磁化的量，也用于經(jīng)過磁粉探傷后，退磁處理的測(cè)量工件剩余磁場(chǎng)的指示
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詳細(xì)摘要： 本紫外線燈是專為無損檢測(cè)中熒光磁粉探傷和熒光滲透探傷而設(shè)計(jì)，在距工件381毫米下紫外線強(qiáng)度大于1000微瓦/平方厘米
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詳細(xì)摘要： 概述：LY-800型紫外線燈熒光探傷燈選用進(jìn)口LDE紫外線燈珠做紫外線光源，具有紫外線強(qiáng)度大、壽命長、功耗低、即開即亮等優(yōu)點(diǎn)
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詳細(xì)摘要： 濟(jì)寧聯(lián)永超聲電子有限公司生產(chǎn)的無損檢測(cè)儀器：便攜式里氏硬度計(jì),超聲波探傷儀,超聲波測(cè)厚儀，電火花檢測(cè)儀，涂層測(cè)厚儀，鍍層測(cè)厚儀,渦流測(cè)厚儀,磁粉探傷機(jī)，工業(yè)觀片...
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詳細(xì)摘要： 在表面粗糙的焊接件或鑄鋼件磁粉探傷時(shí)，由于工作表面凹凸不平，或者由于磁痕顏色與工件表面顏色對(duì)比度很低時(shí)，會(huì)使檢出的缺陷難于發(fā)現(xiàn)，容易造成漏檢
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詳細(xì)摘要： CSK-IA標(biāo)準(zhǔn)試塊/CBI標(biāo)準(zhǔn)試塊/CBII標(biāo)準(zhǔn)試塊/CSI標(biāo)準(zhǔn)試塊是中華人民共和國行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊JB4730-2005CBI標(biāo)準(zhǔn)試塊、CBII標(biāo)準(zhǔn)試塊適用于板...
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