8DL PLUS測厚儀是一款開創(chuàng)超聲測厚技術(shù)新時(shí)代的創(chuàng)新型儀器。這款手持式測厚儀可地適用于幾乎所有超聲測厚應(yīng)用，而且與所有雙晶和單晶探頭*兼容。功能齊全的38DL PLUS測厚儀可用于各種應(yīng)用，包括使用雙晶探頭對內(nèi)壁腐蝕的管件進(jìn)行的管壁減薄的測量，以及使用單晶探頭對薄壁或多層材料進(jìn)行的極其的壁厚測量。 

38DL PLUS的標(biāo)準(zhǔn)配置帶有很多既強(qiáng)大又易于使用的測量功能，以及一些于某些特殊應(yīng)用的軟件選項(xiàng)。其密封機(jī)殼的設(shè)計(jì)符合IP67評級要求，可以抵御極其潮濕或多沙塵的嚴(yán)酷的環(huán)境條件。彩色透反VGA顯示功能使得測厚儀顯示屏無論在明亮的陽光下還是在*的黑暗中都能具有的可視性。測厚儀的鍵區(qū)既簡潔又符合人體工程學(xué)的要求。操作人員使用左手或右手即可輕易訪問所有功能。

對內(nèi)部腐蝕的金屬材料進(jìn)行厚度測量

38DL PLUS測厚儀的一個(gè)主要應(yīng)用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、外殼及其他結(jié)構(gòu)的剩余厚度。這些應(yīng)用中zui常使用的是雙晶探頭。

• 用于標(biāo)準(zhǔn)D79X系列雙晶探頭的自動探頭識別功能。
• 10個(gè)自定義雙晶探頭設(shè)置。
• 校準(zhǔn)過程中用于雙晶探頭的優(yōu)化默認(rèn)增益。
• 用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
• 校準(zhǔn)過程中出現(xiàn)回波加倍時(shí)使用的校準(zhǔn)加倍功能。
• 用于測量帶有漆層和涂層表面的材料的穿透涂層和回波到回波測量功能。
• 高溫測量：溫度可高達(dá)500°C。
• 鍋爐管件和內(nèi)部氧化層測量（可選項(xiàng)），使用M2017或M2091單晶探頭。
• EMAT探頭（E110-SB），用于對外部附有氧化層/沉積物的鍋爐管件進(jìn)行不使用耦合劑的厚度測量。

穿透涂層技術(shù)

使用單個(gè)底面回波測量金屬的實(shí)際厚度。使用這個(gè)技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個(gè)厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要測量金屬的厚度，不再需要減去表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。

氧化層/沉積物測量

38DL PLUS使用算法測量鍋爐管件內(nèi)壁氧化層/沉積物的厚度。測厚儀同時(shí)顯示鍋爐管件的金屬基底厚度和氧化層的厚度。了解氧化層/沉積物的厚度可以預(yù)測管件的壽命。建議在此項(xiàng)應(yīng)用中使用M2017或M2091探頭。

自動探頭識別

所有標(biāo)準(zhǔn)的雙晶探頭都具有自動探頭識別功能。這個(gè)功能可以為每種不同類型的探頭自動調(diào)用默認(rèn)V聲程校正。

對塑料、金屬、復(fù)合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料進(jìn)行厚度測量

用戶使用單晶探頭可以測量金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和接口類型的單晶探頭。用戶使用高分辨率軟件選項(xiàng)可以進(jìn)行分辨率為0.001毫米的極其的厚度測量。

• 對于所有探頭，標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。
• 在使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭的情況下，高分辨率軟件選項(xiàng)可顯示分辨率高達(dá)0.001毫米的測量值。
• 高穿透軟件選項(xiàng)用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
• 多層軟件選項(xiàng)可對多達(dá)4個(gè)不同層的厚度同時(shí)進(jìn)行測量。
• 測量厚度、聲速或渡越時(shí)間。
• 帶有默認(rèn)和自定義設(shè)置的自動調(diào)用應(yīng)用簡化了厚度測量。

高穿透軟件選項(xiàng)

用戶使用這個(gè)選項(xiàng)可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復(fù)合材料等較厚或聲波衰減性較強(qiáng)的材料。

多層軟件選項(xiàng)

這個(gè)軟件選項(xiàng)計(jì)算并同時(shí)顯示多達(dá)4個(gè)不同層的厚度測量值。

這個(gè)功能還可顯示所選各層的總厚度。典型的應(yīng)用包括對塑料燃料箱中的阻擋層、瓶子的預(yù)成型坯及軟性隱型眼睛進(jìn)行的厚度測量。.

測量模式