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鍍層測厚儀,天瑞內儀器

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更新時間：2024-07-31 08:12:37瀏覽次數：169次

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產品簡介

EDX4500系列設備的真空測量室能夠通過X射線熒光分析(RFA)檢測原子序數從Na（11）開始的輕元素

詳細介紹

EDX4500系列設備的真空測量室能夠通過 X 射線熒光分析 (RFA) 檢測原子序數從Na（11）開始的輕元素。由于空氣會吸收輕元素的熒光X射線，因此在大氣環境中通常無法使用該方法。因此，該非常適合對要求嚴苛的鍍層厚度進行測量和材料分析。

EDX4500特性：

檢出限低、重復精度高，以及測量適用性廣，因此特別適用于研究和開發使用
配備真空測量室和高性能硅漂移探測器，能夠實現測量，尤其是對輕元素的測試
通過可編程 X、Y 和 Z 軸進行自動測試
準直器和濾波器可切換，因此可適用于各種材料和測試條件

EDX4500應用：

EDX4500涂層厚度測量

原子序數從Na（11）開始的輕元素鍍層，可測量厚度低至納米級
鋁鍍層和硅鍍層

EDX4500材料分析

測定寶石的真偽與原產地
常規材料分析和取證
高分辨率痕量分析

專業生產鍍層測厚儀，ROHS檢測儀，氣相色譜質譜聯用儀，電感耦合等離子體發射光譜儀,ROHS分析儀，X射線鍍層測厚儀，，ROHS測量儀，液相色譜儀，ROHS2.0分析儀，XRF，X熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測儀， ROHS檢測儀器，手持式合金分析儀等，涉及的儀器設備主要有EDX1800B,Thick800A，GCMS6800，ICP2060T,，ICPMS2000等。