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X熒光光譜儀|鹵素重金屬檢測光譜儀
儀器簡介
DX-320L X熒光光譜儀|鹵素重金屬檢測光譜儀是一款集RoHS指令/鹵素指令/八大重金屬指令一體的X熒光光譜儀。對鉛、汞、鎘、鉻、溴、氯、砷、銻、硒、鋇等元素有很好的檢測下限以及精度。
應用領域
針對企業(yè)應對歐盟、北美RoHS環(huán)保指令精心設計。不但可以測試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、銻、硒、砷等重金屬，還能測試無鹵素指令的溴、氯等有害元素及金屬鍍層。
已在有色金屬、連接器、端子、印刷、玩具、服飾、醫(yī)療設備、地礦、電子、電器、五金、PCB、半導體、通信、電鍍、首飾、手表、汽車、鋼鐵、鞋材、皮革等行業(yè)得到廣泛應用。
性能特點
集合了多年ROHS檢測經(jīng)驗，對六種有害元素尤其是Br、Cl等鹵素進行了優(yōu)化；模塊化的功能設計理念便于應對指令進行、檢測元素內(nèi)容的升級；更為精巧的工藝，實現(xiàn)小體積樣品的檢測；更智能、方便的測試分析軟件，操作人性化、功能強大化；全光路射線防護系統(tǒng)配合三重安全防護設計，同時采用軟硬件雙重安全連鎖，確保輻射安全性能。
◆ 操作界面簡單，測量方便，快捷；
◆ 無損檢測，在無標準樣品時亦可準確分析；
◆ 采用127±5eV的高精度分辨率，保證數(shù)據(jù)測量的精度；
◆ 能夠檢測鹵族元素的精確含量；
◆ 同置高清晰攝像頭，可幫助客戶判斷測量的部位；
◆ 電制冷型的X光管配合光管保養(yǎng)程序，散熱更好，并能有效的延長X光管的壽命；
◆ 外觀高貴大方，加大儀器內(nèi)部空間，儀器內(nèi)部通風性優(yōu)，并有效屏蔽電磁干擾；
◆ 采用*雙峰位快速自動校準；
◆ 自動譜線識別、多元素同時定性定量分析、讓用戶方便認識分析樣品的組成；
◆ 令頁先的定量分析算法，包含F(xiàn)P法、檢量線法、經(jīng)驗系數(shù)法、理論系數(shù)法、神經(jīng)網(wǎng)絡算法等；
◆ 客戶可根據(jù)自已的要求進行二次開發(fā)，自行開發(fā)任意多個分析方法；
◆ 設置了自動安全防護開關，以確保用戶安全使用。
技術指標
| 測試對像 | 粉末、固體、液體 |
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| 元素分析范圍 | 鈉（Na）－鈾（U） |
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| 同時zui多可測元素 | 36種 |
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| 含量分析范圍 | 1ppm～99.99% |
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| 工作穩(wěn)定性 | 總熒光強度為0.1% |
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| 測試時間 | 60～200秒 |
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| 探測器分辨率 | 127eV±5 |
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| 多道分析器 | 2048道 |
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| X射線光管 | 功率50W，靶材可選Ag、Rh、W、Mo |
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| 高壓電源 | 電壓范圍0~50KV，穩(wěn)定度每小時小于0.05% |
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| 外型尺寸 | 660mm×480mm×330mm |
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| 測量倉 | 440mm×350mm×150mm |
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| 重量 | 62Kg |
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| zui低檢出限 | Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm，Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm，Cl≤5ppm |
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鍍層技術參數(shù)
| 可測鍍層數(shù) | zui多可達5層 |
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| 鍍層種類 | 單金屬鍍層、合金鍍層 |
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| 鍍層識別精度 | 分析檢出限可達2ppm，zui薄可測試0.005μm |
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| 厚度測試范圍 | 輕金屬（如：Ti、Cr等）0.01～50um |
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| 中金屬（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um |
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| 重金屬（如：Pt、Au、Pb等）0.005～15um |
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售后服務：
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