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小型溫度交變循環(huán)試驗(yàn)箱，用于測(cè)試和確定電工、電子及其它產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化參數(shù)及性能。

小型溫濕度循環(huán)試驗(yàn)箱，用來考核和確定電工、電子產(chǎn)品或材料在溫濕度循環(huán)變化，產(chǎn)品表面產(chǎn)生凝露的濕熱環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。

小型溫濕度試驗(yàn)箱，適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元器件，在高溫、低溫或濕熱環(huán)境下的各項(xiàng)性能指標(biāo)的檢驗(yàn)。

LED電源恒溫恒濕試驗(yàn)箱，適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。

多段式恒溫恒濕試驗(yàn)箱，適用于對(duì)電工、電子及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行高溫或低溫試驗(yàn)，以及高低溫循環(huán)試驗(yàn)。

蓄電池板恒溫恒濕試驗(yàn)柜，主要為各種工業(yè)制品在研發(fā)、生產(chǎn)、檢驗(yàn)等各環(huán)節(jié)的試驗(yàn)提供恒定濕熱及高低溫交變(濕熱)等試驗(yàn)環(huán)境和試驗(yàn)條件。

風(fēng)冷式溫濕度試驗(yàn)箱，主要為各種工業(yè)制品在研發(fā)、生產(chǎn)、檢驗(yàn)等各環(huán)節(jié)的試驗(yàn)提供恒定濕熱及高低溫交變濕熱等試驗(yàn)環(huán)境和試驗(yàn)條件。

溫濕度環(huán)境恒溫恒濕試驗(yàn)箱，用于檢測(cè)材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。

實(shí)驗(yàn)室恒溫恒濕測(cè)試箱，用于測(cè)試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、交變濕熱度或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。

落地式恒濕恒溫試驗(yàn)箱，適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。

可編程恒溫恒濕試驗(yàn)儀器，用于試驗(yàn)產(chǎn)品在高低溫濕熱的環(huán)境下模擬運(yùn)行，試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。

電源供應(yīng)器恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)，用于測(cè)試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、濕熱度或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。

小型恒溫試驗(yàn)箱，用于檢測(cè)材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。

大型濕熱試驗(yàn)房，針對(duì)高性能電子產(chǎn)品（如：機(jī)算機(jī)整機(jī)，顯示器，終端機(jī)，車用電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機(jī)板、監(jiān)視器、交換式充電器等）仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備...

立式恒溫恒濕試驗(yàn)箱適用于儀器儀表材料、電工、電子產(chǎn)品、家用電器、汽摩配件、化工涂料、各種電子元器件及其他相關(guān)產(chǎn)品零部件在高溫、低溫環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)...

小型恒溫調(diào)濕測(cè)試箱適用于儀器儀表材料、電工、電子產(chǎn)品、家用電器、汽摩配件、化工涂料、各種電子元器件及其他相關(guān)產(chǎn)品零部件在高溫、低溫環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)...

塑膠高低溫恒溫恒濕箱，用于測(cè)試材料、產(chǎn)品和部件在惡劣環(huán)境條件下的性能，以及電子元器件在高溫和低溫條件下的可靠性。

恒溫恒濕交變測(cè)試箱，用于測(cè)試材料、產(chǎn)品和部件在惡劣環(huán)境條件下的性能，以及電子元器件在高溫和低溫條件下的可靠性。

微電腦恒溫恒濕試驗(yàn)箱，用于測(cè)試材料、產(chǎn)品和部件在惡劣環(huán)境條件下的性能，以及電子元器件在高溫和低溫條件下的可靠性。

太陽能板恒溫恒濕冷凍試驗(yàn)箱，可以用于測(cè)試材料、產(chǎn)品和部件在惡劣環(huán)境條件下的性能，以及電子元器件在高溫和低溫條件下的可靠性。