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上海益朗儀器有限公司
美國solar Metrology 太陽能薄膜電池X-射線熒光分析儀(:13701600767)
美國solar Metrology 太陽能薄膜電池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度測量儀
11. 可將實驗室建立的數據直接復制至線上檢測機臺上。
基本規格:
X射線發生部 | 電壓 | zui大50kV,多段電壓切換 |
電流 | 4-1000μA,可做自動調整設定 | |
準直器 | 共五個 | |
偵測器 | Pin or Si | |
檢測器 | 冷卻方式 | 電子冷卻 |
五種濾波器自動切換 | | |
電源 | AC110~240V, 50/60 Hz |
應用領域:
鍍層厚度分析 |
(1)分析CIGS各鍍層的厚度及成份同時測量。 |
其他型號:
薄膜太陽能檢測設備:
應用於薄膜太陽能電池CIGS及CdTe與III及V族厚度及成份分析。
● 桌上型成份及厚度分析儀SMX-BEN:*能提供NIST標準樣品,快速(60秒內)非破壞檢測。
● 生產製程專用模組 SMX-FPV: 適合於設備商turn-key使用,直接OEM與生產製程端整合。
● 即時監測設備(In-Situ) SMX-ISI: 適用於roll to roll、真空與非真空製程腔體內檢測,可耐高溫至 300°C。
● 產線自動檢測系統(In-Line) SMX-ILH:適用於各種製程產線上不同檢測點上,可依現場Layout 做不同方式進樣。
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