美國泛美Panametrics-NDT 45MG 超聲測厚儀
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使用雙晶探頭對腐蝕工件進行測量
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使用單晶探頭對工件進行精確測量
標準功能45MG儀器在使用基本配置時，是一款易懂易學、操作簡便的測厚儀，操作人員經過zui基本的培訓，就可完成zui常用的測厚應用。不過，45MG儀器添加了可選軟件選項和探頭后，就會變成一款極為高級的測厚儀，可以進行典型的初級儀器不能完成的應用。此外，大多數選項可以在購買儀器時分別購買，或在日后需要時購買。
| 可選功能只需幾次按鍵，即可完成從簡單腐蝕測厚儀到多功能精確測厚儀的華麗變身。45MG測厚儀提供需密碼激活的5個軟件選項，從而躋身于工業領域中用途zui廣泛的測厚儀行列。
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抵御惡劣環境的能力
|  室內顯示設置，可選A掃描模式 |
簡便操作的設計理念
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| 測量 | |
| 雙晶探頭測量模式 | 從激勵脈沖后的精確延遲到*個回波之間的時間間隔。 |
| 自動回波到回波（可選） | 在兩個連續底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。 |
| 穿透涂層測量 （可選） | 利用單個底面回波，測量金屬的實際厚度和涂層厚度（使用D7906-SM和D7906探頭） |
| 單晶探頭測量模式（可選） | 模式1：激勵脈沖與*個底面回波之間的時間間隔。 模式2：延遲塊回波與*個底面回波之間的時間間隔（使用延遲塊或水浸式探頭） 模式3：在激勵脈沖之后，位于*個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔（使用延遲塊探頭或水浸式探頭）。 |
| 厚度范圍 | 0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定（要測量zui全的范圍需要使用單晶選項） |
| 材料聲速范圍 | 0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs） |
| 分辨率（可選擇） | 低分辨率：0.1毫米（0.01英寸） 標準分辨率：0.01毫米（0.001英寸） 單晶選項：0.001毫米（0.0001英寸） |
| 探頭頻率范圍 | 標準：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（單晶選項）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB） |
| 一般規格 | |
| 操作溫度范圍 | -10 °C～50 °C（14 °F～122 °F） |
| 鍵盤 | 密封、以色彩區分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋 |
| 機殼 | 防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼，機殼上的接口密封。設計符合IP67標準。 |
| 外型尺寸（寬 x 高 x 厚） | 總體尺寸：91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm |
| 重量 | 430.9克 |
| 電源 | 3節AA電池/USB電源供應 |
| 電池工作時間 | 3節AA堿性電池：20到21小時 3節AA鎳氫電池：22到23小時 3節AA鋰離子電池：35到36小時 |
| 標準 | 設計符合EN15317標準 |
| 顯示 | |
| 彩色透反QVGA顯示 | 液晶顯示，顯示屏尺寸：54.61毫米 x 41.15毫米 |
| 檢波 | 全波、RF波、正半波、負半波（波形選項） |
| 輸入/輸出 | |
| USB | 2.0從接口 |
| 存儲卡 | zui大容量：2 GB可插拔MicroSD存儲卡 |
| 內置數據記錄器（可選） | |
| 數據記錄器 | 45MG通過USB或MicroSD卡識別、存儲、調用、清除及傳輸厚度讀數、波形圖像和儀器配置信息。 |
| 容量 | 475000個厚度測量讀數，或20000個帶厚度值的波形 |
| 文件名稱和ID編碼 | 32位字符的文件名，20位字符的字母數字位碼 |
| 文件結構 | 6個標準的或自定義的用于特定應用的文件結構 |
| 報告 | 機載報告總結了數據統計和zui小值/zui大值 |
標準配置
- 45MG數字式超聲測厚儀
- AA堿性電池
- 2階試塊和耦合劑
- USB線纜
- 用戶手冊，存于CD盤上
- 測量功能：zui小值/zui大值模式、兩個報警模式、差值模式、B掃描、縮減率、可編程的鎖定功能
軟件選項
- 45MG-SE （U8147022）：單晶選項，使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭
- 45MG-HP （U8147023）：單晶高穿透選項，使用頻率范圍為0.5 MHz～30 MHz的單晶探頭
- 45MG-EETC （U8147021）：回波到回波和穿透涂層
- 45MG-WF （U8147019）：波形選項
- 45MG-DL （U8147020）：內置數據記錄器，包含GageView接口程序
選購附件
- MICROSSD-ADP-2GB （U8779307）： 2 GB外置MicroSD存儲卡
- 45MG-RPC （U8779676）： 帶支架的橡膠保護套
