| 電磁式及高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計 日本 型號：WBLZ-370 | 貨號：ZH6915 |
| 產品簡介 本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可損的測量磁性金屬基體（如鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上的非導電覆層的厚度（如琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。 內置打印機，可打印數據，有四個統計功能。 測定方法:電磁式及高頻渦流式 測定對象:磁性金屬上非磁性涂鍍層及非磁性金屬上緣層 測定范圍:電磁式：0～1500um或0～60.0mils 高頻式:0～800um或0～32.0mils 測定精度 電磁式：<15um±0.3um >15um±2% 高頻式:<50um±1um >50um±2% 分辨率:<100um 0.1um >100um 1um 界限設定:可設定上/下限數值 測試單位:公/英制互換 顯示方式:LCD數顯 操作面板:密封防水按鍵 附屬品:鐵基體/鋁基體/校正標準片/電池/皮套/說明書 電源:DV3V 主機5#堿性電池×6個 打印機5#堿性電池×4個 體積:80（W）×80（D）×30（H） 重量:1100g www.ghitest.com |  |
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電磁式及高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計 日本 型號：WBLZ-370 產品信息
