(LQS）兩探電阻率測試儀(測硅芯) 型號:CN61M/KDY-2庫號：M403918 (LQS）兩探電阻率測試儀(測硅芯) 型號:CN61M/KDY-2庫號：M403918 (LQS）兩探電阻率測試儀(測硅芯) 型號:CN61M/KDY-2庫號：M403918

兩探電阻率測試儀(測硅芯) 型號:CN61M/KDY-2

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CN61M/KDY-2型兩探電阻率測試儀（以下簡稱兩探儀）是按照我國標準GB/T1551-1995及美國材料與試驗協會（ASTM）的材料驗收檢測方法“兩探法”設計。它適合于測量橫截面面積均勻的圓型，方型或矩形單晶錠(如硅芯、檢磷、硼棒、區熔鍺錠等)的電阻率，測樣長度與截面大尺寸之比應不小于3：1。由于兩探法的測量電流是從長棒兩端進出，遠離電壓測量探，因此電流流過金屬與半導體接觸處產生的許多副效應（如珀爾帖效應、塞貝克效應、少子注入效應等），對測量的影響較小，測量結果為橫截面的平均電阻率，兩探法的測量精度一般優于四探法。
整套儀器有如下特點
1、配有雙數字表：一塊數字表在測量顯示電壓的同時，另一塊數字表（以萬分之幾的精度）適時監測過程中的電流變化，使操作更方便，測量更精確。
數字電壓表量程：0—199.99mV 靈敏度：10μV 輸入阻抗：1000ΜΩ
基本誤差±(0.04-0.05%讀數+0.01%滿度)
2、可測電阻率范圍：0.001—10000Ω·cm。
3、測量電流由高度穩定（萬分之幾精度）的恒流源提供，不受氣候條件的影響。
電流量程分五檔：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。調節范圍從0.001~100mA
4、儀器采用觸點電阻更低（＜5mΩ）、使用壽命更長的轉換開頭及繼電器（＞10萬次），在絕緣電阻、電流容量方面留有更大的安系數，提高了測試儀的可靠性和使用壽命。
5、可加配HQ-710E微處理機及打印機，實現自動換向測量、求平均值，計算并打印電阻率大值、小值、大百分變化率、平均百分變化率等內容。
6、可加配電，實現數據采集、自動換向測量、求平均值，計算、存儲并打印電阻率大值、小值、大百分變化率、平均百分變化率等內容。