應(yīng)力分析儀
空氣質(zhì)量檢測儀
光譜/色譜/分光光度計(jì)
相對(duì)于SC和PC點(diǎn)計(jì)數(shù)器，PSPC可以說是一個(gè)線性計(jì)數(shù)器。通過掃描給定角度范圍SC和PC計(jì)數(shù)器獲得X射線衍射，PSPC計(jì)數(shù)器在縱向方向執(zhí)行50到100mm范圍同時(shí)計(jì)數(shù)，約20°在2θ范圍內(nèi)。PSPC有*的分辨能力。
20°范圍同時(shí)計(jì)數(shù)，無需檢測器掃描，大幅降低測量時(shí)間。因此可以快速測量。此外，綜合測量能力允許微區(qū)領(lǐng)域極微弱衍射峰的測量。理學(xué)X射線衍射儀與PSPC檢測器相結(jié)合實(shí)現(xiàn)殘余應(yīng)力的高速、微區(qū)測量。
快速應(yīng)力分析儀: PSPC/MSF
允許高速測量。對(duì)比傳統(tǒng)方法，測量時(shí)間可以大幅縮短10到100倍，需取決于測量種類。此款X射線應(yīng)力儀可以通過簡單的操作使操作人員立即獲得應(yīng)力值zui終數(shù)據(jù)。
- 應(yīng)力值zui終數(shù)據(jù)可以立即獲得
- 優(yōu)化系統(tǒng)允許批處理樣品測量
- 適合各種形狀樣品
- 包括各種測量方法如：ISO傾角方式，側(cè)傾斜方式等
- CRT上可檢查測量條件
微區(qū)： PSPC/微區(qū)應(yīng)力
PSPC與特殊光學(xué)系統(tǒng)結(jié)合可準(zhǔn)確獲得0.15 mm直徑微區(qū)殘余應(yīng)力信息。截至到現(xiàn)在，一直被認(rèn)為從這些極小區(qū)域檢測是困難的。因此，此系統(tǒng)特別適合復(fù)雜圖形樣品和小粒徑樣品（滲碳鋼，陶瓷等）
- 0.15 mm直徑微區(qū)殘余應(yīng)力測量可在很短時(shí)間內(nèi)完成。
- 系統(tǒng)可以測量完成后立即處理數(shù)據(jù)。
- 優(yōu)化系統(tǒng)用于IC封裝基板中殘余應(yīng)力測量，這些組件進(jìn)行超精密加工，制造成型等。
- X射線光束尺寸從0.15 mm到2 mm用適當(dāng)?shù)臏?zhǔn)直器可調(diào)。
- 包括各種測量方法如：ISO傾角方式，側(cè)傾斜方式等
適用于選配的X-Y軸樣品臺(tái)驅(qū)動(dòng)電機(jī)（標(biāo)配：手動(dòng)）
