IEC60884-1 / GB2099.1第24.4章及圖27、VDE0620-2010第24.4章及圖28、VDE0472、GB2951.14
本裝置需配合低溫箱使用,使用時(shí)與試件置于低溫箱內(nèi),經(jīng)一定時(shí)間冷卻后,以規(guī)定重量之砝碼,由 100mm 之高度落下,撞擊試件,檢測插頭或線材隔離線內(nèi)外緣及護(hù)套之受損情況。
本裝置需配合低溫箱使用,使用時(shí)與試件置于低溫箱內(nèi),經(jīng)一定時(shí)間冷卻后,以規(guī)定重量之砝碼,由 100mm 之高度落下,撞擊試件,檢測插頭或線材隔離線內(nèi)外緣及護(hù)套之受損情況。
沖擊高度:100mm
落錘重量:100,200,300,400,500,600,750,1000,1250,1500g
落錘重量:100,200,300,400,500,600,750,1000,1250,1500g