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| P系列代表的是采用Q8-901中英文彩色觸摸屏式人機(jī)界面(畫(huà)面對(duì)談式)電腦控制的可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱.可選配USB曲線記錄,數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置. 超低濕試驗(yàn)箱，除了可仿真產(chǎn)品在一般氣候環(huán)境溫濕組合條件下(高低溫操作&儲(chǔ)存、溫度循環(huán)、高溫高濕、結(jié)露試驗(yàn))..等，去檢測(cè)產(chǎn)品本身的適應(yīng)能力與特性是否改變，以及針對(duì)產(chǎn)品在(低溫低濕、高溫低濕、高溫高濕降到低溫低濕..等)環(huán)境下是否會(huì)發(fā)生龜裂、破損，另外在低濕環(huán)境中的空氣靜電量是一般環(huán)境的30倍以上，據(jù)統(tǒng)計(jì)，半導(dǎo)體破壞率：59%是由靜電所引起的。 ※ 需符合國(guó)際性規(guī)范之要求(IEC、JIS、GB、MIL…)以達(dá)到國(guó)際間量測(cè)程序一致性(含測(cè)試步驟、條件、方法)避免認(rèn)知不同，并縮小量測(cè)不確定的因素范圍發(fā)生。 |
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| ●人機(jī)對(duì)話式觸摸屏輸入系統(tǒng)，操作簡(jiǎn)單易學(xué)，功能強(qiáng)大，并可于LCD畫(huà)面上了解程式設(shè)定之曲線及監(jiān)測(cè)過(guò)程； ●可設(shè)定程式120組，1200段，循環(huán)次數(shù)可達(dá)999次，每段時(shí)間*大設(shè)定99小時(shí)59分； ●具有RS232通信接口，可通過(guò)PC隨意控制和監(jiān)視，還可選配RS485接口，USB曲線記錄和數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置,使用便捷； ●具有9組PID參數(shù)調(diào)節(jié)，以達(dá)到穩(wěn)定、精準(zhǔn)之控制； ●具有程式修正、**、預(yù)約、啟動(dòng)、停電、記憶、按鍵鎖定等功能； ●具有多種報(bào)警功能，故障發(fā)生同時(shí)，可通過(guò)熒幕故障顯示，消除故障； ●送風(fēng)循環(huán)設(shè)計(jì)，溫濕度分布均勻性佳； ●具有自動(dòng)防霜裝置的真空雙重玻璃，可清晰觀察試驗(yàn)箱內(nèi)的試品； ●前置式自動(dòng)進(jìn)水裝置，方便增加加濕水。 |
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| 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn).中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)分為強(qiáng)制性國(guó)標(biāo)(GB)和推薦性國(guó)標(biāo)(GB/T) 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),GB 10586-89濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),GB 10592-89高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),GB/T10589-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn) 國(guó)際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn),IEC68-2-03_試驗(yàn)方法Ca_穩(wěn)態(tài)濕熱 國(guó)際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn),IEC68-2-01_試驗(yàn)方法A_冷 國(guó)際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn),IEC68-2-02_試驗(yàn)方法B_干熱 美用標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD-810F-507.4 濕度 美用標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD-810F-501.4 高溫 美用標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD-810F-502.4 低溫 美用標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環(huán)試驗(yàn) 美用標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD810D方法502.2 美用標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD810方法507.2程序3 日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JIS C60068-2-3-1987 試驗(yàn)Ca:濕熱、穩(wěn)態(tài) 日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JIS C60068-2-2-1995 試驗(yàn)B:干熱 日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JIS C60068-2-1-1995 試驗(yàn)A:低溫 美國(guó)半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JESD22-A101-B-2004 恒定溫濕度試驗(yàn) 美國(guó)半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JESD22-A103-C-2004 高溫儲(chǔ)存試驗(yàn) 美國(guó)半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JESD22-A119-2004 低溫儲(chǔ)存試驗(yàn) 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),GB/T 2423.1-2001 低溫 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),GB/T 2423.2-2001 高溫 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),GB/T 2423.3-1993 恒定濕熱試驗(yàn)方法 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),GB2423.34-86 溫濕度組合循環(huán)試驗(yàn) 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),GB/T2423.4-93方法 中國(guó)國(guó)家環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備方法,GJB150.9-8 濕熱試驗(yàn) |
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