奧林巴斯CIX100技術清潔度檢測系統：讓您的技術清潔度檢測更簡便
組件與零部件的清潔對于生產工藝十分重要。對于開發、制造、批量生產以及成品質量控制的所有流程，滿足對常見微觀尺寸污染物和異物顆粒的計數、分析和分類的高標準要求是非常重要的。由于顆粒污染物對于零部件的使用壽命存在直接影響，國際和國家指令對于確定重要機械部件顆粒物污染的方法和存檔要求均有表述。此前，使用殘留顆粒物的質量來描述殘留物特征。當前使用的標準對諸如顆粒物數量、顆粒物尺寸分布以及顆粒物特征等污染屬性提出了更詳細的信息要求。
奧林巴斯CIX100清潔度檢測系統專為滿足現代工業及國家和國際標準的清潔度要求而特別設計。
組件及零部件的技術清潔度非常重要，特別是在汽車和航空航天行業。
清潔度檢測的標準步驟：準備和檢測
(01:提取, 02:過濾, 03:稱重, 04:檢驗, 05:復審, 06:結果)
簡單，可靠
硬件與軟件無縫集成的耐用型高效率系統能夠產出可靠、精確的數據。
l實現真正整體解決方案功能性的簡單配置
l通過穩定不變的系統配置實現精確的可重復性和*佳安全性
l**的光學性能和可再現成像條件
l通過可再定位和集成校準裝置確保成熟可靠的耐久性
l確保高性能的全系統集成
實現*高效率的直觀引導
使用方便的專用工作流可大大減少用戶操作并確保數據可靠性-無關操作員的經驗水平。
l分布操作指導可提高生產率，縮短檢測和處理時間
l用戶權限管理可對功能作出限制，通過限制功能避免操作員處理失誤
l觸摸屏支持操作員高效操作處理
l一鍵報告功能可直接進行數據存檔
l通過檢測結果自動存儲和進行數據分享管理
快速實時分析
創新的一體式掃描解決方案讓完成掃描的速度是傳統調節檢偏鏡式檢測系統的兩倍。實時顯示顆粒物的計數和篩選過程，并且配有便于修改檢測數據的**易用型工具。
l縮略圖像有助于評估過濾器覆蓋情況、顆粒物類型情況或者*劣顆粒物
l自動實時處理和分類2.5微米至42毫米污染物顆粒
l通過**的一體式掃描技術一次掃描完成反光和非放光物體的探測提高生產率
l分析和檢測結果實時顯示，實現*短反應時間
l支持兼容國際標準的檢測結果
高效率的數據評估
功能**且使用方便的工具支持檢測數據修改。支持所有國際標準確保*高靈活性。以節省時間的方式清晰展示所有相關檢測結果。
l圖像和數據布局清晰鮮明，提高數據審核效率
l各種顆粒物視圖的可視化，便于快速識別
l顆粒物位置與縮略圖與其尺寸圖像鏈接的可靠保證
l便于對檢測數據進行重新分類、審核修改以及重新計算
l通過整體清潔度代碼、顆粒物和分類表的實時顯示縮短反應時間
l通過在一個視圖內顯示全部檢測數據集實現全面控制
報告創建
一鍵報告功能可滿足國際標準規定的要求及原則。
l基于兼容模板實現全面直觀的專業文檔
l通過客戶可修改的模板實現的智能可變性
l支持各種輸出格式，實現*高靈活性
l通過直接文件分享選項功能進行信息交流提高效率且節省時間
l便于檢測結果長期評判的豐富數據存儲方案
硬件
顯微鏡 | OLYMPUS CIX100 | 電動對焦 | 3軸操縱桿控制的同軸自動細調焦 對焦行程 25毫米 微調行程 100微米/周 載物臺托架*大高度:40毫米 對焦速度 200微米/秒 可啟用軟件自動對焦 可定制多點聚焦圖 |
照明器 | 內置LED照明 可同時實現反光和非反光顆粒物探測的照明機制 光強度由工廠預設 | ||
成像設備 | 彩色CMOS USB 3.0相機 | ||
樣品高度 | ?樣品受限于安裝在所附濾膜托架上的過濾膜(直徑47毫米) | ||
物鏡轉換器 | 電動型 | 電動物鏡轉換器 | 6孔電動物鏡轉換器，已經安裝3個UIS2物鏡 PLAPON 1.25X，用于預覽 MPLFLN 5X，用于觀察大于10微米的顆粒物 MPLFLN 10X，用于觀察大于2.5微米的顆粒物 選配：選配MPLFLN 20X，用于高度測量。 |
軟件控制 | 圖像放大倍率和像素與尺寸之間的關系均可隨時掌握。 | ||
載物臺 | 電動載物臺X,Y | 電動載物臺X,Y | 步進電機控制運動 *大范圍:130 x 79毫米 *大速度 240毫米/秒(4毫米滾珠螺距) 可重復性 < 1微米 分辨率 0.01微米 使用3軸操縱桿控制 |
軟件控制 | 掃描速度與所使用的倍率有關，10X時保證掃描速度少于10分鐘 載物臺對齊由工廠在裝配時完成 | ||
樣品托架 | 樣品托架 | 樣品托架專為在安裝過程中避免發生意外碰撞轉動而特別設計 過濾膜通過樣品托架進行機械式展平 固定上蓋時無需使用工具 樣品托架始終使用載物臺上的插槽1 | |
顆粒物標準片(PSD) | 用于驗證系統測量的參考樣品 在檢驗系統控制CIX相應功能的內置功能中使用的樣品 顆粒物標準片(PSD)始終使用載物臺上的插槽2 | ||
載物臺插件 | 2個載物臺插槽 | 載物臺插槽專門用于樣品托架和顆粒物標準片(PSD)的正確定位 | |
控制器 | 工作站 | 高性能預安裝式工作站 | HP Z440, Windows 10-64位專業版(英文版) 16 GB RAM, 256 GB SSD和4 TB數據存儲空間 2GB視頻適配器 安裝Microsoft Office 2016 (英文版) 具備聯網功能，英文全鍵盤，1000 dpi光學鼠標 |
擴展插件 | 電動控制器, RS232 串口和USB 3.0 | ||
語言選擇 | 操作系統和Microsoft Office默認語言可由用戶更改 | ||
觸摸屏 | 23寸觸摸屏 | 專為CIX軟件優化的1920x1080分辨率 | |
功耗 | 額定值 | AC適配器(2), 控制器和顯微鏡鏡架(需要4個插頭) | |
功耗 | 控制器：700瓦; 顯示器:56瓦; 顯微鏡:5.8 瓦; 控制盒 7.4瓦 合計:769.2瓦 | ||
圖紙 | 尺寸 (長 x 寬 x 高) | 約1300毫米 x 800毫米 x 510毫米 | |
重量 | 44公斤 | ||
系統環境要求
常規使用 | 溫度 | 10 - 35 °C |
濕度 | 30 - 80 % | |
用于安全 | 環境 | 室內使用 |
溫度 | 5 - 35 °C | |
濕度 | *大80%（可達31 °C)（無冷凝） 溫度高于31 °C時可工作的濕度值呈線性下降。 34 °C (70 %)至37 °C (60 %)至40 °C (50 %) | |
海拔高度 | *高2000米 | |
水平度 | *大± 2° | |
電源及電壓穩定性 | ±10 % | |
污染等級 | 2 | |
總電壓 | II |
軟件
軟件 | CIX-ASW-V1.1 |
技術清潔度檢測的專用工作流軟件 | |
語言 | GUI :英語、法語、德語、西班牙語、日語、中文簡體、以及韓語 |
在線幫助：英語、法語、德語、西班牙語、日語、中文簡體、以及韓語 | |
許可證管理 | 軟件許可證通過許可證卡激活（安裝時已經激活） |
用戶管理 | 系統可連接到網絡進行域管理 |
實時圖像 | 以彩色模式顯示 |
窗口適應方法 | |
實時探測 | |
硬件控制 | XY電動載物臺 |
電動物鏡轉換器：僅可使用軟件選擇 | |
電動對焦 | |
光線控制:光強度由軟件進行自動控制 | |
檢查系統 | 系統驗證 |
技術清潔度標準 | 可支持的標準：ISO 11218:1993; ISO 14952; ISO 16232-10; ISO 21018; ISO4406:1999; ISO4407:1991; ISO12345:2013; NAS 1638-01; NF E48-651:1986; NF E48-655:1989; SAE AS4059E |
全面符合VDA19:2016推薦要求 | |
顆粒物識別：顆粒物可通過顆粒物類型進行分類（纖維、反光、反光纖維、或其他） | |
定制標準：用戶定義的標準可輕松確定 | |
檢測配置：系統允許加載、定義、復制、重命名、刪除和保存檢驗標準 | |
顆粒物平鋪視圖 | 以平鋪視圖顯示檢測到的顆粒物，提升導航效果 |
存儲完整薄膜 | 完整濾膜圖片可被存儲，并可使用不同條件進行重新處理 |
顆粒物編輯 | 在修改過程中可對顆粒物進行編輯功能包括： |
動態報告 | 使用Microsoft Word 2016模板可生成全面可定制的專業分析報告 |
選配解決方案CIX-S-HM
高度測量 | 選定顆粒物的自動或手動高度測量 | - 選配軟件解決方案可對所選顆粒物從上到下進行自動對焦。顆粒物高度由此通過Z坐標*大和*小差獲得。 |
環境法規
歐洲 | 低壓指令 2014/35/EU |
EMC指令 2014/30/EU | |
RoHS指令 2011/65/EU | |
REACH法規，編號1907/2006 | |
包裝及包裝廢棄物指令94/62/EC | |
WEEE指令 2012/19/EU | |
機械指令2006/42/EC | |
美國 | UL 61010-1:2010第3版 |
FCC 47 CFR第15部分 B子部分 | |
加拿大 | CAN/CSA-C22.2 (No. 61010-1-12) |
澳大利亞 | 1992無線電通信法案，1997電信法案 |
節能條例 AS/NZS 4665-2005 | |
日本 | 電氣設備及材料安全法 (PSE) |
韓國 | 電氣設備安全控制法案 |
節能標簽及標準條例 | |
EMC和無線電通信條例（公告2913-5) | |
中國 | 中國RoHS |
中國PL法 | |
手冊條例 |
