 | SpectrumTEQ-EL系列電致發光量子效率測量系統，可以針對發光器件的光電特性進行有效測量，系統搭配的QEpro光譜儀為業內旗艦系列，具有信噪比、低雜散光等特性，可確保測量結果得準確性；同時，系統配有強大的測試軟件，對話框式的軟件操作界面讓測量過程變得更為簡單。 測量參數 · 量子效率 · 亮度 · 量子效率隨電流密度的曲線 · 色坐標 · 輻射通量，光通量 · 峰值波長 應用領域 · 無機電致發光 · 有機電致發光 · 分子薄膜EL器件 產品優勢 · 體積小巧：便于靈活使用及運輸。 · 原位測量：可放至手套箱內，實現原位測量 · 流程化操作：設備無需頻繁校準。 產品參數 | 系統配置 | | 配置方案 | 方案1 | 方案2 | | 光譜儀 | 型號 | QEPro / QE65Pro（可選） | | 光譜范圍(nm) | 350-1100 | | 信噪比 | 1000:01:00 | | 分辨率 | 2.5 nm (FWHM) | | 動態范圍 | 85000:1（QEPro單次采集）；25000:1（QE65Pro單次采集） | | AD位數 | 18-bit（QEPro）；16-bit（QE65Pro） | | 積分球 | 尺寸 | 3.3” | 1.5” | | 材質 | Spectralon | | 源表 | Keithley2400 | | 光纖 | 芯徑 | 1000um（可更換其他芯徑） | | 校準燈 | 角度 | 2 Pi | 型號 | HL-3-INT-CAL | | 亮度 | 50 流明 | 功率 | 5W（電功率） | | 無線遙控 | 通道數 | 4 | 無遙控 | | 軟件 | SpectrumTEQ-EL專用軟件 | | |
