1、高分辨率-無論何時,無論哪次

在樣品上每個原子實現力掃描

點缺陷的高分辨三維尺寸和機械性能成像

2、釋放帶寬實現更快成像

通過快速輕敲，不降低效果的同時增加掃描速度

采用雙向掃描選項即刻實現成像速度翻倍

采用布魯克專有的高速探針，結合已知規程（BKM）可將掃描速度提高10倍

3、完整的納米尺度定量信息

可信的納米級粘彈性表征

常規地獲得高質量力學性能數據

4、獲取納米力學和納米化學數據的高級AFM研究

在之前不可能研究的樣品上研究電學性能

獲取整體力學數據，從而全面表征接觸力學機制

5、潛力無限-靈活，開放

使研究人員通過PeakForce Tapping®技術獲得高分辨率圖像

先使用已有的測量模式；如果沒有，創造一個

在開放的平臺上直接進行改造， 與其它技術聯用

6、超乎想象的簡單

NanoScope®是被世界認可的，被廣泛引用的原子力顯微鏡