英國易高Elcometer456探頭
為滿足客戶的特定應用要求，所有的英國易高Elcometer456探頭*可互換，且提供大量的設計與刻度范圍。
- 平直探頭 – 可在平面和曲面上測量涂層
- 微型探頭 - 是測量邊緣涂層、窄管涂層或小型表面區域涂層的理想產品
- 直角探頭 – 用于測量難以接近的地方
- PINIP™探頭 – 插入式探頭，可把分體式儀器轉化為整體式儀器
- 遠端探頭 – 可延伸直角探頭到達一般探頭難以到達的地方
- 超聲/掃描探頭 - 這些探頭均裝有可更換式探頭蓋-用戶可獲取單個讀數或掃描大塊表面區域，而不會損壞探頭
- 防水探頭– 封閉設計，深水中使用，即使佩戴潛水手套也不影響使用
- 高溫探頭 – 可用在溫度高達250℃（480℉）的涂層上
- 陽極氧化探頭 – 抗化學溶劑腐蝕，非常適合用在陽極氧化環境中
- 鎧裝探頭 – 探頭帶有重型金屬強化電纜，可降低電纜損壞風險
- 軟涂層探頭 – 大塊面積表面探頭，用于檢測軟性覆蓋材料（經HVCA認證）
- 專業探頭 - 這些探頭可用在專業基體上測量，如：石墨或電鍍組件
鐵基探頭測量鐵磁基體上的非磁性涂層厚度。 Elcometer 456鐵基類儀器認可任何鐵基探頭。 非鐵基探頭測量非鐵基金屬基體上的非導電涂層厚度，Elcometer 456非鐵基類儀器認可任何非鐵基探頭。 兩用FNF探頭可同時用于鐵基和非鐵基應用，具有自動識別基體功能。 Elcometer 456 FNF類儀器認可所有鐵基、非鐵基以及兩用FNF探頭。
除非另有說明，需在低達150°C（300°F）的環境中使用，PINIP探頭需在80°C（176°F）的環境下使用。
所有均帶有檢測證書以及一套適用于該探頭刻度范圍的校準膜片。
各種涂層/基體的相應探頭選擇
附件
| 測量范圍: | 0-1500μm （0-60mils） | 精確度*: | ±1-3% or ±2.5μm （±0.1mil） |
分辨率: | 0.1μm: 0-100μm; 1μm: 100-1500μm （0.01mil: 0-5mils; 0.1mil: 5-60mils） | |||
探頭設計 |
| 凸面直徑 | 凹面半徑 | zui小凈空高度 | zui小樣本半徑? | |
直探頭 | 鐵基 F | T456CF1S | 4mm （0.16"） | 25mm （0.98"） | 85mm （3.35"） | 4mm （0.16"） |
非鐵基 N | T456CN1S | 10mm （0.39"） | 10mm （0.39"） | 85mm （3.35"） | 4mm （0.16"） | |
兩用型 FNF | T456CFNF1S | F Mode: 4mm （0.16"） N Mode: 26mm （1.02"） | 12.5mm （0.49"） | 88mm （3.46"） | F Mode: 4mm （0.16"） N Mode: 6mm （0.24"） | |
直角探頭 | 鐵基 F | T456CF1R | 4mm （0.16"） | 25mm （0.98"） | 28mm （1.10"） | 4mm （0.16"） |
非鐵基 N | T456CN1R | 10mm （0.39"） | 14mm （0.55"） | 28mm （1.10"） | 4mm （0.16"） | |
兩用型 FNF | T456CFNF1R | F Mode: 4mm （0.16"） N Mode: 26mm （1.02"） | 12.5mm （0.49"） | 38mm （1.50"） | F Mode: 4mm （0.16"） N Mode: 6mm （0.24"） | |
微型M5-90度探頭 | 鐵基 F | T456CFM5R90A | 3mm （0.12"） | 6.5mm （0.26"） | Headroom: 16mm （0.63"） Width: 7mm （0.28"） | 4mm （0.16"） |
陽極氧化型 | 非鐵基 N | T456CN1AS | 10mm （1.38"） | 14mm （0.55"） | 100mm （3.94"） | 4mm （0.16"） |
PINIP探頭 | 鐵基 F | T456CF1P | 4mm （0.16"） | 60mm （2.36"） | 170mm （6.69"） | 4mm （0.16"） |
非鐵基 N | T456CN1P | 10mm （0.39"） | 50mm （1.97"） | 180mm （7.09"） | 4mm （0.16"） | |
兩用型 FNF | T456CFNF1P | F Mode: 4mm （0.16"） N Mode: 26mm （1.02"） | 65mm （2.56"） | 180mm （7.09"） | F Mode: 4mm （0.16"） N Mode: 6mm （0.24"） | |
| 測量范圍: | 0-5mm （0-200mils） | 精確度*: | ±1-3% or ±20μm （±1.0mil） |
分辨率: | 1μm: 0-1mm; 10μm: 1-5mm （0.1mil: 0-50mils; 1mil: 50-200mils） | |||
| 在稀薄涂層上須具有更高的分辨率和準確性，量程2鐵基探頭性能可轉化為量程1性能 | |||
探頭設計 |
| 凸面直徑 | 凹面半徑 | zui小凈空高度 | zui小樣本半徑? | |
直探頭 | 鐵基 F | T456CF2S | 4mm （0.16"） | 25mm （0.98"） | 89mm （3.50"） | 8mm （0.32"） |
非鐵基 N | T456CN2S | 100mm （3.97"） | 150mm （5.90"） | 88mm （3.46"） | 14mm （0.55"） | |
直角探頭 | 鐵基 F | T456CF2R | 4mm （0.16"） | 25mm （0.98"） | 32mm （1.26"） | 8mm （0.32"） |
鎧裝探頭 | 鐵基 F | T456CF2ARM | 4mm （0.16"） | 25mm （0.98"） | 138mm （5.43"） | 8mm （0.32"） |
可伸縮探頭 | 鐵基 F | T456CF2T | 4mm （0.16"） | 25mm （0.98"） | 36mm （1.42"） | 8mm （0.32"） |
軟涂層探頭 | 鐵基 F | T456CF2B | Flat Surface | Flat Surface | 89mm （3.50"） | 8mm （0.32"） |
防水探頭 | 鐵基 F | T456CF2SW-15 | 4mm （0.16"） | 40mm （1.98"） | 130mm （5.12"） | 8mm （0.32"） |
PINIP探頭 | 鐵基 F | T456CF2P | 4mm （0.16"） | 60mm （2.36"） | 174mm （6.85"） | 8mm （0.32"） |
非鐵基 N | T456CN2P | 100mm （3.97"） | 150mm （5.90"） | 185mm （7.28"） | 14mm （0.55"） | |
高溫探頭 250°C （480°F） | 鐵基 F | T456CF2PHT | 4mm （0.16"） | 60mm （2.36"） | 174mm （6.85"） | 8mm （0.32"） |
| 測量范圍: | 0-13mm （0-500mils） | 精確度*: | ±1-3% or ±50μm （±2.0mils） |
分辨率: | 1μm: 0-2mm; 10μm: 2-13mm （0.1mil: 0-100mils; 1mil: 100-500mils） | |||
探頭設計 |
| 凸面直徑 | 凹面半徑 | zui小凈空高度 | zui小樣本半徑? | |
直探頭 | 鐵基 F | T456CF3S | 15mm （0.59"） | 40mm （1.57"） | 102mm （4.02"） | 14mm （0.55"） |
PINIP探頭 | 鐵基 F | T456CF3P | 15mm （0.59"） | 45mm （1.77"） | 184mm （7.24"） | 14mm （0.55"） |
| 測量范圍: | F: 0-25mm （0-980mils） | 精確度*: | ±1-3% or ±100μm （±4.0mils） |
N: 0-30mm （1200mils） | ||||
分辨率: | 10μm: 0-2mm; 100μm: 2-30mm （1mil: 0-100mils; 10mils: 100-1200mils） | |||
探頭設計 |
| 凸面直徑 | 凹面半徑 | zui小凈空高度 | zui小樣本半徑? | |
直探頭 | 鐵基 F | T456CF6S | 35mm （1.40"） | 170mm （6.70"） | 150mm （5.90"） | 51 x 51mm2 （2 x 2 sq. inch） |
非鐵基 N | T456CN6S | Flat Surface | Flat Surface | 160mm （6.30"） | 58mm （2.30"） | |
鎧裝探頭 | 鐵基 F | T456CF6ARM | 35mm （1.40"） | 170mm （6.70"） | 190mm （7.48"） | 51 x 51mm2 （2 x 2 sq. inch） |
非 | T456CN6ARM | Flat Surface | Flat Surface | 200mm （7.87"） | 58mm （2.30"） | |
| 測量范圍: | 0-500μm （0-20mils） | 精確度*: | ±1-3% or ±2.5μm （±0.1mil） |
分辨率: | 0.1μm: 0-100μm; 1μm: 100-500μm （0.01mil: 0-5mils; 0.1mil: 5-20mils） | |||
探頭設計 |
| 凸面直徑 | 凹面半徑 | zui小凈空高度 | zui小樣本半徑? | |
微型M3探頭 45mm （1.77"） | 鐵基 F | T456CFM3---A | 1.9mm （0.07"） | 6.5mm （0.26"） | 6mm （0.24"） | 3mm （0.12"） |
非鐵基 N | T456CNM3---A | 6mm （0.24"） | 8.5mm （0.33"） | 6mm （0.24"） | 4mm （0.16"） | |
微型M3-90度探頭 45mm （1.77"） | 鐵基 F | T456CFM3R90A | 1.9mm （0.07"） | 6.5mm （0.26"） | Headroom: 16mm （0.63"） Width: 7mm （0.28"） | 3mm （0.12"） |
非鐵基 N | T456CNM3R90A | 6mm （0.24"） | 8.5mm （0.33"） | Headroom: 16mm （0.63"） Width: 7mm （0.28"） | 4mm （0.16"）
| |
微型M3-45度探頭 45mm （1.77"） | 鐵基 F | T456CFM3R45A | 1.9mm （0.07"） | 6.5mm （0.26"） | Headroom: 18mm （0.71"） Width: 7mm （0.28"） | 3mm （0.12"） |
微型M3-90度角 150mm （5.90"） | 鐵基 F | T456CFM3R90C | 1.9mm （0.07"） | 6.5mm （0.26"） | Headroom: 16mm （0.63"） Width: 7mm （0.28"） | 3mm （0.12"） |
非鐵基 N | T456CNM3R90C | 6mm （0.24"） | 8.5mm （0.33"） | Headroom: 16mm （0.63"） Width: 7mm （0.28"） | 4mm （0.16"） | |
刻度0.5石墨 | 范圍 | 0-500μm （0-20mils） | 精確度* | ±1-3%或±2.5μm（±0.1mil） |
| 分辨率 | 0.1μm： 0-100μm；1μm： 100-500μm（0.01mil： 0-5mils；0.1mil： 5-20mils） | |||
探頭樣式 |
|
凸面直徑 |
凹面半徑 |
zui小凈空高度 |
zui小樣本半徑 | |
| zui小90°石墨 45mm （1.77"） | 非鐵基 N | T456CNMG3R90A | 6mm （0.24"） | 8.5mm （0.33"） | Headroom: 16mm （0.63"） | 4mm （0.16"） |
zui小90°石墨 150mm （5.90"） | 非鐵基 N | T456CNMG3R90C | 6mm （0.24"） | 8.5mm （0.33"） | Headroom: 16mm （0.63"） | 4mm （0.16"） |
zui小90°石墨 | 非鐵基 N | T456CNMG3R90E | 6mm （0.24"） | 8.5mm （0.33"） | Headroom: 16mm （0.63"） | 4mm （0.16"） |
超聲/掃描探頭 | 范圍: 0-1500μm （0-60mils）+ |
精確度*^: ±1-3% or ±2.5μm （±0.1mil） | |||||
分辨率: 1μm: 0-1500μm （0-60mils） | |||||||
探頭樣式 | zui小凈空高度 | zui小樣本半徑? | ||
超聲/掃描探頭 | 鐵基F | T456CF1U | 85mm （3.50"） | 5mm （0.59"） |
兩用型 FNF | T456CFNF1U | 85mm （3.50"） | 5mm （0.59"） | |
| 產品信息 |
| T456C23956 | 超聲/掃描探頭備用保護蓋（3/包）# | |
取較大者
FNF（F）： FNF探頭的F模式； FNF（N）：FNF探頭的N模式
使用無涂層基體樣本進行校準
在光滑表面檢測時，在50多公里（30英里）外掃描探頭保護蓋
不帶探頭保護蓋
