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透射電子顯微鏡 HT7700

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱似空科學儀器(上海)有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2024/3/1 12:11:09
  • 訪問次數214
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似空科學儀器(上海)有限公司是一家儀器設備的方案提供商,我們致力于為中國制造業和研發機構提供高性能、符合人體工學設計的儀器設備及解決方案。我們為客戶提供專業的儀器進口貿易服務,同時可以根據客戶的設備應用場景、生產和研發規劃,為客戶的儀器選型提供專業的咨詢。似空科學的技術團隊也可以為客戶提供激光加工、電子控制、系統軟件或者特定失效分析儀器的定制開發。儀器設備發展的極限是探測手段和傳感器不對被測目標產生任何干擾,企業管理的某種境界是一切以市場為核心,不以自我的意愿抗拒市場的趨勢,代替客戶的喜好,于是我們取名“似空”,希望以忘我的精神服務客戶。我們夢想有朝一日,能夠充分掌握市場需求,深刻理解儀器設備的技術原理,聚集一批有激情、有理想、有技術的人,為中國的制造業升級以及中國科研走向世界水平,提供自有知識產權的*儀器設備!
透射電子顯微鏡 HT7700
日立HT7700 : 數字一體化的TEM操作平臺,操作簡便的通用性設計
HT7700優異的高反差、高分辨圖像觀察與強大的分析擴展功能,可為生物醫學、醫藥、食品、農業、高分子、化學、納米材料等多領域提供*的TEM解決方案。
透射電子顯微鏡 HT7700 產品信息

透射電子顯微鏡 HT7700特色

設計*:可在明亮房間簡便操作,標準配備自動對中、自動聚焦、自動消像散等多種自動功能

熒光屏相機和CCD主相機

可在明亮的環境下操作透射電鏡,在顯示器上直接觀測熒光屏相機的圖像,方便尋找目標樣品。

目標區域高速自動回溯功能

所有拍攝的圖片將全部保存在圖像數據庫中,并以縮略圖方式顯示,每張縮略圖均包含所有圖像的屬性信息。點擊任意一張縮略圖,并選擇“Auto drive”,樣品臺將自動回溯到此圖像拍攝時的位置。

全視野圖像導航(Whole View)和軌跡記錄功能

全視野圖像導航功能(Whole View),可以直接獲取微柵全景圖,便于更加直觀地進行圖像導航。軌跡記錄功能可標示樣品臺的移動軌跡。樣品臺記憶功能可保存多達 100 個坐標, 并可自動移動至坐標位置。

自動預輻照功能 (Auto Pre-Irradiation,API)

自動預輻照功能(API)可快速穩定樣品,防止漂移,尤其對觀測電子束敏感的樣品或不穩定的樣品有*幫助。自動預輻照有多種操作模式(全景式掃描(Whole Scan)、邊框式掃描(Frame Scan)、區域式掃描(Area Scan))。用戶可選擇單種或多種模式組合,以達到*預輻照效果。

觀測區域的損傷痕跡(左),通過使用API 功能后,損傷痕跡可基本消除(右)。 API 功能可有效減少觀測過程中的樣品損傷和樣品漂移。

自動漂移校正功能

樣品觀測時,由于樣品臺移動慣性或局部熱脹冷縮,可能會導致樣品漂移。自動漂移校正功能可對漂移量進行檢測 并給予校正。通過自動漂移校正功能,在各種觀察條件下均可獲取高清晰圖像。

高清畫質:標準配備高像素相機,實現了和電鏡的全功能一體化。研發的高精度算法,可實現全自動連續拍攝片,并自動獲取無縫拼接的大視野圖

自動拼圖功能可獲取高像素的大視野圖像

  • 自動拼圖功能可實現全自動操作,完成連續的圖片采集、保存和拼接工作
  • 高精度的自動連續圖像采集,可通過電位偏移或樣品臺移動兩種方式來實現。
  • 研發的圖像拼接算法,可將自動連續采集的圖像進行高精度拼接,zui終獲得大視野高清圖像。

性能:日立*的雙隙物鏡設計,可實現高分辨模式/高反差模式兩種觀察模式

雙隙物鏡

  • 日立*的雙隙物鏡設計,可以在長焦模式下實現高反差(HC) 觀察;在短焦模式下實現高分辨(HR) 觀察。
  • 根據樣品的要求,用戶僅需通過軟件一鍵操作,就可以便捷實現高反差(HC) 模式和高分辨(HR) 模式的相互切換。
  • 高反差(HC) 模式下,物鏡可動光闌恰好設置在物鏡后焦面上,因而顯著提高圖像的襯度。
    (HC: High Contrast HR:High Resolution)

擴展性強:可選配三維重構功能、STEM附件、EDX微區分析、多種*樣品桿等,可選擇實現超高分辨觀測的高分辨透鏡EXALENS

三維重構功能(選配)

HT7700的馬達臺具有很高的穩定性,其自動傾斜角度可達±70 °,結合日立*的重構算法——包含TBR (Topography Based Reconstruction) 等多種重構算法——可獲得高精度的三維重構結果。

雙軸三維重構(選配)

將樣品沿著α-β雙軸方向傾轉獲得的圖像結合起來,采用日立*的重構軟件進行處理,可以獲得誤差更小、更精確的三維重構形貌圖。

掃描透射觀察設備(STEM)(選配)

明場(BF) 和暗場(DF) 檢測器可以安裝在HT7700上對樣品進行STEM 分析。在BF-STEM 模式下色差系數減小,可以獲得清晰的高襯度圖像。高靈敏度的DF-STEM 檢測器,可高效檢測到散射電子,提高樣品Z 襯度。配合能譜EDX使用,可同時獲得多種元素的成分面分布圖。

高分辨透鏡EXALENS (選配)

EXALENS 是為HT7700設計的新型物鏡,低球差的高分辨透鏡EXALENS,分辨率可達0.144 nm(晶格像、加速電壓120 kV)。 EXALENS在較低的加速電壓下仍可進行低損傷、高分辨成像,特別適用于軟材料、碳材料和高分子材料等領域的研究。

滿足不同應用需求的多種樣品桿(選配)

根據不同的需求,用戶不僅可以選擇日立自主研發的各種功能的樣品桿(下圖所示),而且還可以選用其他廠商制造的冷凍,加熱,原位等多種樣品桿產品。

  • One-touch 單樣品桿雙
  • 雙軸傾斜樣品桿
  • One-touch 三樣品桿
  • 高溫加熱樣品桿
  • 旋轉樣品
  • 三樣品桿
  • EDX 樣品桿

綠色環保:綠色清潔的無油真空系統,較前一代機型CO2 排放量減少30%

  • HT7700的真空系統標準配備渦輪分子泵,可實現鏡筒清潔無油。渦輪分子泵還實現了綠色真空環境,能量消耗在電鏡運轉時減少 30%,待機時減少 70%。 (與配備擴散泵的H-7650 相比)
  • HT7700榮獲日立集團設立的環境友好型「綠色環保產品」。

透射電子顯微鏡 HT7700規格

項目說明
分辨率(晶格像)0.204 nm (100 kV)
[EXALENS為0.144 nm(120 kV):選配件]
(的相機上保證分辨率)
放大倍數變焦×200 - ×200,000 (高對比度模式)
×4,000 - ×600,000 (高分辨率模式)
(無圖像旋轉)

[×200 - ×300,000 (高對比度模式)
×2,000 - ×800,000 (高分辨率模式) for EXALENS:選配件]
低倍率模式×50 - ×1,000
加速電壓40 - 120 kV (zui小100 V/步長 可變)
樣品臺優中心測角馬達臺
主相機800萬像素(縱橫比 = 3 : 4) 也可安裝其他照相機。
15168338725
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