Simply the best AFM for automatic defect review and surface roughness measurement
對于媒介和基體領域的工程師而言，識別納米級缺陷是一個非常耗時的工作。Park NX-HDM原子力顯微鏡系統可借助數量級實現自動缺陷識別、掃描和分析，從而加快缺陷的檢查過程。Park NX-HDM可與眾多的光學檢查工具直接進行連接，這就意味著自動缺點檢查通量會大幅提高。此外，Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測量功能。憑借著業內的本底噪聲和的True Non-Contact™技術，Park NX-HDM毫無疑問是市面上表面粗糙度測量確的原子力顯微鏡。
Higher Throughput, Automatic Defect Review
對于媒介和基體領域的工程師而言，識別納米級缺陷是一個非常耗時的工作。Park NX-HDM原子力顯微鏡系統可借助數量級實現自動缺陷識別、掃描和分析， 從而加快缺陷的檢查過程。Park NX-HDM可與眾多的光學檢查工具直接進行連接，這就意味著自動缺點檢查通量會大幅提高。
Sub-Angstrom, Surface Roughness Measurement
業內對于超平媒介和基體的要求越來越高，所以需要滿足設備體積不斷減小的需求。此外，Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測量功能。憑借著業內的本底噪聲和的True Non-Contact™技術，Park NX-HDM毫無疑問是市面上表面粗糙度測量確的原子力顯微鏡。
Automatic Defect Review for Media and Substrates
Higher Throughput, Automatic Defect Review
NX-HDM的自動缺陷檢查功能(Park ADR)可加速和改良媒介和基體缺陷的識別、掃描和分析流程。借助光學檢查工具所提供的缺陷位置圖，Park ADR可自動定位這些位置并進行成像（分兩步）：
(1) 縮小掃描成像，以準確定位缺陷。
(2) 放大掃描成像，以獲取缺陷的細節。在真實缺陷測試中，我們可以看到相比于傳統的方法，該自動功能可將缺陷檢查通量提高10倍。
Automated Search Scan & Zoom-in Scan
經過優化的掃描參數讓兩步式掃描更為快速：
(1) 快速的低分辨率搜尋式掃描，來準確定位缺陷。
(2) 高分辨率的放大掃描，來獲取缺陷的細節。可調節的掃描尺寸和掃描速度參數能滿足用戶的所有需求。
Automatic Transfer and Alignment of Defect Maps to AFM
借助的映射算法，從自動光學檢測(APO)工具中獲取的缺陷坐標圖可準確地傳入和映射至Park NX-HDM。該技術讓全自動高通量缺陷成像成為可能。
Map of Defect Coordinates from an Optical Inspection Tool
Accurate Sub-Angstrom Surface Roughness Measurement
Sub-Angstrom, Surface Roughness Measurement
業內對于超平媒介和基體的要求越來越高，所以需要滿足設備體積不斷減小的需求。此外，Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測量功能。憑借著業內的本底噪聲和的True Non-Contact™技術，Park NX-HDM毫無疑問是市面上表面粗糙度測量確的原子力顯微鏡。
Accurate AFM Scan by True Non-Contact™ Mode
True Non-Contact™ Mode
探針磨損更低=高分辨率掃描更長久
無損式探針-樣品接觸=樣品變化程度最小
避免參數依賴
Tapping Imaging
探針磨損更快=掃描圖像模糊
破壞性探針-樣品接觸=樣品受損變化
高參數依賴性
Accurate AFM Topography with Low Noise Z Detector
True Sample Topography™ without piezo creep error
形貌使用了低噪聲Z軸探測器信號
寬帶寬下0.02 nm的低Z軸探測器噪聲
Park NX AFM
前沿和后沿無過沖
只需出廠前進行一次校準
Conventional AFM
Automatic Measurement Control
自動化軟件讓NX-HDM的操作不費吹灰之力。測量程序針對懸臂調諧、掃描速率、增益和點參數進行優化，為您提供多位置分析。自動化軟件會按照測量文件中預設的程序進行樣品測量。Park的用戶友好型軟件界面讓用戶可靈活執行全系統功能。創建新測量文件只需要10分鐘左右的時間，而修改現有的測量文件則需要不到5分鐘的時間。
Park NX-HDM具有：
自動、半自動和手動模式
各自動程序的可編輯測量方法
測量過程實時監測
自動分析所獲取的測量數據
Ionization System
離子化系統可有效地消除靜電電荷。由于系統隨時可生產和位置正離子和負離子之間的理想平衡，便可以穩定地離子化帶電物體，且不會污染周邊區域。它也可以消除樣品處理過程中意外生成的靜電電荷。
