X熒光光譜儀根據其分光原理不同分成波長色散型X熒光光譜儀(波譜儀,WDXRF)和能量色散型X熒光光譜儀(能譜儀,EDXRF)。我們通常所說的X熒光光譜儀就是指波長色散的儀器。
X熒光光譜儀在無損檢測方面,具有其他剖析技能無法比較的長處,應用X射線光譜儀掃描辦法探測土壤表層下面的是元素是X射線無損檢側技能的一個主要使用范疇,X熒光光譜儀根據有手持和臺式兩種,所采用的都是X熒光光譜儀的原理,X熒光光譜儀由激發源和探測系統構成,根據各元素的特征X射線的強度,也可以獲得各元素的含量信息。

X熒光光譜儀是一種較新型的可以對多元素進行同時測定的儀器,在X射線激發下,被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線(即X熒光),波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。

X熒光光譜儀根據其分光原理不同分成波長色散型X熒光光譜儀(波譜儀,WDXRF)和能量色散型X熒光光譜儀(能譜儀,EDXRF),我們通常所說的X熒光光譜儀就是指波長色散的儀器,X熒光光譜儀可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進行定性、定量剖析,元素局限13Al-92U,含量局限ppb至,檢出限到2pg。

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