一、概述
本系列產品根據試品使用的特殊性，分為兩箱式動態沖擊和一箱式靜態沖擊。既可作冷熱沖擊試驗，也可作單獨高溫或單獨低溫使用。廣泛用于航空、航天、電子、IT行業等模擬試品在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產品篩選等，同時可通過此試驗，進行產品的質量控制。
二、依據標準
《電工電子產品基本環境試驗規程 試驗N：溫度變化試驗方法》GB2423.22-93
《溫度沖擊試驗》GJB 150.5-86
《溫度沖擊方法》GJB 360.7-87
《高溫試驗箱技術條件》GB 11158-2008
《低溫試驗箱技術條件》GB 10589-2006
《高低溫試驗箱技術條件》GB 10592-2008
《電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫》GBT 2423.1-2008
《電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B：高溫》GBT 2423.2-2008