布魯克 Bruker光學(xué)輪廓儀 ContourX-200
ContourX-200 光學(xué)輪廓儀提供了高級(jí)表征能力、可選定制配件、和使用方便三者的融合,是同類(lèi)產(chǎn)品中、最準(zhǔn)確、可重復(fù)性的非接觸式三維表面計(jì)量系統(tǒng)。該計(jì)量系統(tǒng)占地面積小,采用更大視場(chǎng)、5MP 數(shù)碼攝像頭和全新電動(dòng) XY 工作臺(tái),具有的二維/三維高分辨測(cè)量能力。ContourX-200 擁有出色的 Z 軸分辨率和精確度,具備布魯克專(zhuān)有白光干涉(WLI)技術(shù)廣受業(yè)界認(rèn)可的所有優(yōu)勢(shì),而且不存在傳統(tǒng)共聚焦顯微鏡和同類(lèi)普通光學(xué)輪廓儀的局限性。