高性能X射線熒光分析儀
產(chǎn)品描述：
美國博曼（Bowman）Bowman BA-100 Optics 臺(tái)式X射線熒光（XRF）鍍層測(cè)厚儀——為您提供高精度、快速簡(jiǎn)便的鍍層厚度測(cè)量、元素分析，以及電鍍液分析。
Bowman BA-100 Optics 機(jī)型采用業(yè)界的多孔毛細(xì)管光學(xué)聚焦裝置，有效縮小測(cè)量點(diǎn)斑點(diǎn)的同時(shí)，可數(shù)倍乃至數(shù)十倍提高X射線激發(fā)強(qiáng)度。
Bowman BA-100 Optics 機(jī)型配備大面積的SDD（硅漂移探測(cè)器），有效拓展元素分析范圍，適應(yīng)的微區(qū)、超薄鍍層，以及痕量元素分析需求。
優(yōu)秀的測(cè)試性能、突出的微區(qū)測(cè)量能力，Bowman BA-100 Optics機(jī)型是研究開發(fā)、質(zhì)量管控的XRF鍍層厚度及元素成分分析儀器。
穩(wěn)定的X射線管
微聚焦50瓦M(jìn)o靶射線管（其它靶材可選）; 小于100um的測(cè)量斑點(diǎn)
射線出射點(diǎn)預(yù)置于射線管Be窗正
長(zhǎng)壽命的射線管燈絲
的預(yù)熱和ISO溫度適應(yīng)程序
多毛細(xì)管聚焦光學(xué)結(jié)構(gòu)
顯著提高X射線信號(hào)強(qiáng)度
獲得較準(zhǔn)直器機(jī)型數(shù)倍乃至數(shù)十倍的信號(hào)強(qiáng)度
小于100um直徑的測(cè)量斑點(diǎn)
經(jīng)過驗(yàn)證，接近的測(cè)量精度
應(yīng)用領(lǐng)域：
常見的鍍層應(yīng)用
PCB行業(yè)
Au/Pd/Ni/Cu/PCB
引線框架
Ag/Cu
Au/Pd/Ni/CuFe
半導(dǎo)體行業(yè)
Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材
Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材
線材
Sn/Cu
珠寶、貴金屬
10,14,18Kt
元素分析、合金分類、雜質(zhì)分析、溶液分析、電鍍液分析等
