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TFMS-LD反射光譜薄膜測厚儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱沈陽科晶自動化設(shè)備有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地沈陽市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2023/5/22 16:55:19
  • 訪問次數(shù)201
產(chǎn)品標(biāo)簽:

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沈陽科晶自動化設(shè)備有限公司是由畢業(yè)于美國麻省理工學(xué)院的江曉平博士于2000年5月創(chuàng)建。與合肥科晶材料技術(shù)有限公司、深圳市科晶智達(dá)科技有限公司同屬于科晶聯(lián)盟。自SYJ-150低速金剛石切割機(jī)誕生以來,沈陽科晶便開始了以趕超國外同行、材料分析設(shè)備潮流為目標(biāo)的發(fā)展歷程。時至今日,已經(jīng)擁有涵蓋材料切割、研磨、拋光、涂膜、鍍膜、混合、壓軋、燒結(jié)、分析等領(lǐng)域以及相關(guān)耗材的上百種產(chǎn)品,可以滿足晶體、陶瓷、玻璃、巖相、礦樣、金屬材料、耐火材料、復(fù)合材料、生物材料等制備分析的全套需要。  沈陽科晶立足國內(nèi)市場實際情況,以提供實用的產(chǎn)品為己任。產(chǎn)品的質(zhì)量、精度在向國外企業(yè)看齊的基礎(chǔ)上,產(chǎn)品的價格定位卻僅僅是其幾分之一。的性價比不僅吸引了眾多國內(nèi)客戶,而且令挑剔的外國客商也稱贊不已,產(chǎn)品遠(yuǎn)銷于印度、馬來西亞、土耳其、波蘭、突尼斯、澳大利亞等國家,并大量出口于美國。  沈陽科晶一直致力于高等院校、研究所、生產(chǎn)企業(yè)的科研服務(wù),即產(chǎn)品定位于研究市場,主要面向廣大高等院校、科研機(jī)構(gòu)、實驗室以及工廠的小規(guī)模生產(chǎn)。多年以來,已與全國眾多高校、研究院所建立了良好的合作、服務(wù)關(guān)系。其中北京大學(xué)、清華大學(xué)、浙江大學(xué)、哈爾濱工業(yè)大學(xué)、東北大學(xué)等高校,金屬研究所、上海硅酸鹽研究所、中國科學(xué)地質(zhì)與地球物理研究所等科研機(jī)構(gòu),中國航天工業(yè)集團(tuán)公司、中國船舶重工集團(tuán)公司、攀鋼集團(tuán)有限公司等企業(yè)都是長期合作的榮譽(yù)客戶。  沈陽科晶為了更好地服務(wù)客戶,專門設(shè)立了開放式專業(yè)實驗室,配備了優(yōu)秀的專業(yè)技術(shù)人員。在這里,不僅可以提供親身的產(chǎn)品體驗環(huán)境,而且還可得到專業(yè)人員的操作指導(dǎo)。開設(shè)以來,制作的樣品達(dá)上千件,接待來訪客戶參觀百余次,其中包括多次外國友人的來訪。在此,沈陽科晶全體員工誠摯地歡迎您的到來,并希望您能提出寶貴的意見與建議。此外,沈陽科晶擁有優(yōu)質(zhì)、高效、專業(yè)的銷售咨詢、售后服務(wù)團(tuán)隊,能夠為每一位客戶提供采購建議與方案、完善的使用指導(dǎo)與售后服務(wù)。使每一位客戶的需求得到滿足是沈陽科晶每個員工不懈努力的目標(biāo)。  沈陽科晶一路走過的歷程,是為我國材料研究事業(yè)全力貢獻(xiàn)的歷程,是以實際行動將自己打造成國內(nèi)材料分析設(shè)備品牌的歷程,是與國外同行不斷縮小差距的歷程,是與廣大客戶相扶相持的成長歷程。雖一路充滿坎坷與荊棘,但堅持不懈的沈陽科晶人仍全力以赴的前行。秉承這份堅持,相信在不久的將來,沈陽科晶也將會成為國際市場上專業(yè)的、杰出的材料分析設(shè)備品牌,沈陽科晶的明天會更加燦爛輝煌。
TFMS-LD反射光譜薄膜測厚儀
TFMS-LD反射光譜薄膜測厚儀 產(chǎn)品信息

產(chǎn)品簡介:TFMS-LD反射光譜薄膜測厚儀是一款利用反射光譜測試薄膜厚度的儀器,可快速精確地測量透明或半透明薄膜的厚度而不損傷樣品表面的薄膜是一款無損測厚儀,其測量膜厚范圍為15nm-50um測量膜厚范圍廣,尤其適用于超薄薄膜厚度的測量。儀器所發(fā)出測試光的波長范圍為400nm-1100nm,波長范圍廣,因此,測試薄膜厚度的范圍廣TFMS-LD反射光譜薄膜測厚儀測試系統(tǒng)理論基礎(chǔ)為鏡面纖反射探頭,該儀器尺寸小巧可節(jié)省實驗室空間操作方便,讀數(shù)直觀,方便于在實驗室中擺放和使用。

 

產(chǎn)品名稱

  TFMS-LD反射光譜薄膜測厚儀

產(chǎn)品型號

TFMS-LD

測量膜厚范圍

15nm-50um

光譜波長

400 nm - 1100 nm

主要測量透明或半透明薄膜厚度

氧化物

氮化物

光刻膠

半導(dǎo)體(硅,單晶硅,多晶硅等)

半導(dǎo)體化合物(ALGaAs,InGaAs,CdTe,CIGS等)

硬涂層(碳化硅,類金剛石炭)

聚合物涂層(聚對二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)

金屬膜

        

特點

測量和數(shù)據(jù)分析同時進(jìn)行,可測量單層膜,多層膜,無基底和非均勻膜

包含了500多種材料的光學(xué)常數(shù),新材料參數(shù)也可很容易地添加,支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等

體積較小,方便擺放和操作

可測量薄膜厚度,材料光學(xué)常數(shù)和表面粗糙度

使用電腦操作,界面中點擊,即可進(jìn)行測量和分析

精度

0.01nm或0.01%

準(zhǔn)確度

0.2%或1nm

穩(wěn)定性

0.02nm或0.02%

光斑尺寸

標(biāo)準(zhǔn)3mm,可以小至3um

要求樣品大小

大于1mm

分光儀/檢測器

400 - 1100 nm 波長范圍

光譜分辨率: < 1 nm

電源 100 -250 VAC, 50/60 Hz 20W

光源

5W的鎢鹵素?zé)?/span>

色溫:2800K

使用壽命:1000小時

反射探針

光學(xué)纖維探針,400um纖維芯

配有分光儀和光源支架

載樣臺

測量時用于放置測量的樣品

 

通訊接口

USB接口,方便與電腦對接

TFCompanion軟件

強(qiáng)大的數(shù)據(jù)庫包含兩500多種材料的光學(xué)常數(shù)(n:折射率,K:消失系數(shù))

誤差分析和模擬系統(tǒng),保證在不同環(huán)境下對樣品測量的準(zhǔn)確性

可分析簡單和復(fù)雜的膜系

 

設(shè)備尺寸

200x250x100mm

重量

4.5kg

關(guān)鍵詞:測厚儀
15168338725
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