日本photonic-lattice光子晶體圖像傳感器PA/WPA紅外系列
日本photonic-lattice光子晶體圖像傳感器PA/WPA紅外系列
這是一個可以用相機高速測量雙折射和相位差的系統，該相機利用結合了我們的光子晶體和我們自己的軟件的圖像傳感器。
PA/WPA系列
該設備可以評估透明部件的變形和薄膜的延遲不均勻性。從顯微鏡尺寸到大尺寸（約 50 cm），我們備有與測量對象相對應的產品系列。
PA系列是測量范圍為0～130nm的低相位差裝置，以500萬像素的高分辨率高速測量雙折射/相位差的分布。
適用于測量相位差小的物體，如玻璃制品、鏡片等。
WPA 系列是通過測量三個波長的雙折射/相位差分布，將相位差測量范圍從 0 擴展到 3500 nm 的系列。
適用于相位差較大的透明樹脂制品的測量
PA/WPA-近紅外系列
測量波長為 850 nm 的 PA/WPA 系列。我們為不透射可見光的樹脂和硫屬化物玻璃（人臉識別、LiDAR 系統等）的質量控制和工藝開發提供強大的工具。
配合鏡頭分析功能，在用戶設定的條件下進行測量，自動判斷合格/不合格。將測量時間減少到幾乎為零秒。實現快速檢測。通過改變測量波長，實現了超過標準WPA相位差測量范圍的高相位差測量。一種專注于色散的新算法。這樣可以實現高度可重復的測量，幾乎不會發生在測量厚的和復雜形狀的樹脂成型產品時容易發生的數據突然變化。
