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 s-SNOM技術使用金屬鍍層的原子力（AFM）探針針尖代替傳統光纖探針來增強樣品的納米尺度區域的散射，散射信號可以在遠場被檢測到。而這些散射信號攜帶了樣品在金屬探針針尖下納米區域的復雜光學性質。具體而言，這些散射光的信息包括光的振幅和相位，通過適當的模型，這些測量可以估算出針尖下樣品納米尺度區域材料的光學常數（n，k）。在某些情況下，光學相位與波長還提供了個與同種材料常規吸收光譜近似的光譜信息。   

    瑞宇科技的散射式近場光學顯微鏡建立在基于具有先地位的納米光學表征工具原子力顯微鏡AFM的基礎之上。s-SNOM設計具有不錯的性能，高度集成，全面自動化，使用靈活，為研究生產力和易用性設定了新的標準。

應用：

        由于瑞宇科技的散射式近場光學顯微鏡和光譜譜圖的可靠性和可重復性，s-SNOM業已成為納米光學域熱點研究方向的推薦科研設備，廣泛適用于各種無機物和有機物，如表面等離子體、納米天線、2D材料（石墨烯，BN），納米結構，半導體，絕緣體，生命科學，高分子材料等，在等離基元、納米FTIR和太赫茲等眾多研究方向得到許多重要科研成果。

      石墨烯等離子體的s-SNOM相位和振幅圖像（上—相位圖像三維視圖；左—相位和SPP駐波線橫截面；右—s-SNOM振幅圖）

      光學近場顯微鏡的光譜和成像。（上—波長相關的復雜光學性質；下左—共振（1659cm-1）的s-SNOM相位圖像；下右—非共振（1605cm-1）的s-SNOM相位圖像）

      s-SNOM圖像顯示了棒狀天線上的偶子散射。（上—覆蓋在形貌圖上的s-SNOM圖像；下左—AFM圖像；下右—s-SNOM圖像）

      紫外膜的s-SNOM測量揭示了蛋白質在脂質膜內的分布。（上—AFM高度圖；下左—當紅外激光源調諧到酰胺I吸收帶產生共振時（1667cm-1）s-SNOM相位圖像；下右—非共振時（1618cm-1）s-SNOM相位圖像）

產品特點：

10nm空間分辨率近場成像和光譜；

利的快速成像和采譜技術，10倍于傳統的空間光譜成像；

利背景壓制技術和高效光學信號收集技術，確保在10nm空間分辨率下仍然保持高的信噪比；

預先校準光路，操作其簡便；

模塊化設計，可拓展性強；

產品參數：

光學分辨率：1.5um

XY掃描范圍：80x80um

成像波段：900～2000cm-1，2235～3600cm-1

空間分辨率：10～100nm產品參數：

光學分辨率：1.5um

XY掃描范圍：80x80um

成像波段：900～2000cm-1，2235～3600cm-1

空間分辨率：10～100nm