X熒光光譜儀Thick800A能分析單鍍層、雙鍍層、合金鍍層等多種鍍層類型的厚度，精確度達到0.01μm，同時鍍層分析能力多達5層。THICK 800采用上照式設計，通過三維移動和激光定位，可實現對大件部件的鍍層厚度和含量的無損、快速測定。

Ｘ熒光光譜儀Thick800A的技術參數：

1.       金屬鍍層檢出限：0.01μm

2.       同時鍍層分析能力：5層

3.       元素分析范圍：從鉀（K）到鈾（U）。

4.       多次測量重復性可達：0.01μm

5.       長期工作穩定性為：0.1μm（5μm左右單鍍層樣品）

6.       輸入電壓：220±5V/50HZ（建議配置交流凈化穩壓電源）

7.       環境溫度:15℃—30℃

8.       環境濕度：35%—70%

9.       樣品腔面積: 517 mm×352mm×150mm

10.    外形尺寸：648mm×490mm×544mm

11.    重量：65Kg 

Ｘ熒光光譜儀Thick800A的應用領：

1.       鍍層厚度測量

2.       鍍層和電鍍液含量測定

3.       電鍍業

4.       首飾加工

Ｘ熒光光譜儀Thick800A的配置：

1.       正比計數盒探測器/電制冷Si-PIN探測器。

2.       穩定X光管。

3.       內置信噪比增強器可有效提高儀器信號處理能力25倍以上。

4.       針對不同樣品選配合適準直器和濾光片。

5.       二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。

6.       雙激光定位裝置。

7.       開放式樣品腔。

8.       玻璃屏蔽罩。

9.       信號檢測電子電路。

10.    高低壓電源。

11.    任意多個可選擇的分析和識別模型。

12.    相互獨立的基體效應校正模型。

13.    多變量非線性回收程序。

14.    智能鍍層檢測軟件，與儀器硬件相得益彰。