產品描述

常溫SEM原位納米壓痕儀——NanoFlip納米壓痕儀提供高精度XYZ位移，可定位樣品進行測試，還提供翻轉機制，可定位樣品進行成像。InView軟件附帶一套測試方法，涵蓋一系列測試協議，并允許用戶創建自己的新穎測試方法。InForce50驅動器在真空和常壓條件下表現同樣出色。InView軟件可以記錄SEM或其他顯微鏡圖像，并與機械測試數據進行同步。創新的FIB-to-Test技術允許樣品傾斜90°，無需移除樣品即可實現從FIB到壓痕測試的無縫過渡。

主要功能

·        InForce 50驅動器，用于電容位移測量，并配有電磁啟動的可互換探頭

·        InQuest高速控制器電子設備，具有100kHz數據采集速率和20μs時間常數

·        用于樣本定位的XYZ移動系統

·        SEM視頻捕獲，可以將SEM圖像和測試數據進行同步

·        的軟件集成壓頭校準系統，可實現快速，準確的壓頭校準

·        與Windows^®10兼容的InView控制和數據查看軟件以及協助用戶設計實驗的方法開發功能

主要應用

·        硬度和模量測量（Oliver-Pharr）

·        連續剛度測量

·        高速材料性質分布圖

·        ISO 14577硬度測試

·        聚合物的納米動態力學分析（DMA）

·        定量刮擦和磨損測試

工業應用

·        大學、研究實驗室和研究所

·        支柱和微球制造

·        MEMS（微機電系統）

·        材料制造（結構壓縮/斷裂測試）

·        電池和元件制造