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光學3D表面輪廓儀

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱深圳市冬紅科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號HSR-05系列
  • 所  在  地
  • 廠商性質生產廠家
  • 更新時間2022/8/12 11:12:09
  • 訪問次數275
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“HatPlant”品牌中文名“冬紅”,品牌名稱起源于一種來自喜馬拉雅山地的強陽性灌木花,即冬日里的紅花,象征不畏冬日紅遍山脈。

 

“HatPlant”冬紅品牌創立于2020年,同年國家個別領域重大科技技術被掐脖子,國家重振科技之時,對于實驗室基礎研究的檢驗檢測儀器很大一部分都還依賴進口。基于此,“HatPlant”冬紅品牌創始人于2020年10月,創立該品牌,并成立品牌公司——深圳市冬紅科技有限公司,專注于國產基礎檢驗檢測設備的研發,致力于服務高校、研究單位和企業,在基礎研究方面對檢驗檢測設備的需求。

 

“HatPlant”冬紅目前已重點布局半導體、鋰電、新能源、LED照明、家電等行業,并有多名5年以上第三方實驗室高級工程師、企業實驗室高級管理人員及相關設備研發人員加盟,已可配套可靠性實驗室環境試驗箱、高精度功率分析儀、多功能試驗機、耐破試驗機、鹽霧機、顯微鏡、跌落試驗機等等實驗室基礎設備。

 

中國不缺乏實驗室設備品牌,但是設備行業水平參差不齊,“HatPlant”冬紅奮斗目標是:集多年進口設備*經驗、可靠的產品質量、完善的售后服務,鑄造一個綜合性、全面、高性能、技術過硬的實驗室設備品牌。以十年磨一劍的恒心,不斷進取,讓*儀器設備只能依靠進口設備的成為歷史;以爭分奪秒的氣勢,不斷吸取,讓不同行業的實驗室用上可靠的國產設備;以忍辱負重的決心,不斷探索,讓中國的儀器設備在世界舞臺有一席之地。

紙箱測試,電池設備,顯微鏡,安規儀器,環境試驗箱,光學測試儀,超級電容,通用儀器,儀器耗材,電鏡耗材,制樣耗材
以非接觸的掃描方式,實現針對樣品表面的超高重復精度的3D測量,獲取表征樣品表面質量的2D、3D數據。
光學3D表面輪廓儀 產品信息
產品功能

1.粗糙度測量功能∶

從0.1nm級別的超光滑表面到數十微米級別的粗糙表面,儀器均能實現高精度測量,支持ISO/ASMEEUR/GBT等國內外標準的數百種2D、3D參數。

2.輪廓尺寸測量功能∶

?支持納米級高度測量和0.4um級別的線寬測量,支持80倍的槽深寬比測量,具備點、線、面相關的寬度、高度、角度、直徑等各類輪廓尺寸測量功能;

3.自動多區域測量功能∶

?實現方形、(橢)圓形外觀樣品的大范圍內等分距離的多個小區域的自動測量;

4.自動拼接功能∶

??當待測區域大于鏡頭單視場尺寸時,采用自動拼接功能設置好起點和終點即可一鍵完成大區域范圍的測量,同時可根據樣品表面質量選擇高精度和高速掃描兩種模式;

5.預編程分析功能∶

?可在測量前設置好數據處理和分析流程,實現測量到分析的一鍵。式操作,有效縮減操作步驟;

6.同步分析功能∶

視圖與分析工具同框設計,支持視圖直接操作,分析工具實時更新分析結果,實現分析過程的所見即所得,大大縮減操作時間。

產品特點
  • 復合型掃描算法:集合了PSI高精度&VSI大范圍雙重優點的 EPSI掃描算法,有效覆蓋從超光滑到粗糙等 所有類型樣品,無須切換,操作便捷;

  • 自動測量功能:批量樣品測量,無須精確對焦, 即可一鍵完成測量分析;

  • 雙重防撞保護功能:Z軸上裝有防撞機械電子傳感器、 軟件ZSTOP防撞保護功能,雙重保護, 多一重安心。 

  • 地面&聲波振動噪聲隔振模塊:氣浮隔振系統&經過內部抗振處理的測頭, 能夠有效隔離地面振動噪聲和空氣中傳播的聲 波振動噪聲,保證在嘈雜的車間環境也可正常工作;

  • 環境噪聲檢測功能:*的環境噪聲評價功能能 夠定量檢測儀器當前所處環境的 綜合噪聲數值,對儀器的調試、測試可靠性提供指導;

  • 完善的售后服務體系:遵循客戶的原則,設備故障時間遠程&現場解決,軟件免費升級。 

技術規格


型號HSR-05HSR-05ProHSR-08
光源白光LED
標配影像系統1024×1024
標配干涉物鏡10×(2.5×,5×,20×,50×,100×可選)
標配視場0.98*0.98mm
物鏡塔臺3孔手動
XY位移平臺尺寸320×200mm300×300mm400×400mm
移動范圍140×110mm200×200mm300×300mm
負載10kg
控制方式電動
水平調整±5°±6°
Z軸聚焦行程100mm
控制方式電動
Z向掃描范圍10 mm
Z向分辨率0.1nm
可測樣品反射率0.05%~99%
粗糙度RMS重復性0.005nm
臺階測量準確度重復性
0.3% 1σ0.08% 1σ


注:粗糙度性能參數依據 ISO25178-2012 國際標準在實驗室環境下測量Sa為0.2nm硅晶片Sq 參數獲得;臺階高性能參數是依據 ISO4287-1997在實驗室環境下測量4.7µm臺階高標準塊獲得。

應用領域

可廣泛應用于對器件表面質量要求的半導體、光學加工、3C玻璃屏、薄膜制備、微納器件、納米材料、薄膜制備、超精密加工等工業企業領域,以及高校、科研院所和計量機構等研究、檢測型單位。

關鍵詞:傳感器
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