透射電鏡原位MEMS低溫電學測量系統，如本頁面您未找到需要的產品，請直接聯系客服

透射電鏡原位MEMS低溫電學測量系統是在標配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實現低溫電學測量或全溫區測量功能。

性能指標
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透射電子顯微鏡指標：

● 兼容型號電鏡及極靴；

● 單傾可選高傾角版本；

● 可選雙傾版本，β角傾轉±25°（同時受限于極靴）；

● 測量電極數可選。

電學測量指標：

● 包含一個電流電壓測試單元；

● 電壓輸出Z大±200 V，Z小±100 nV；

● 電流測量Z大±1.5 A，Z小100 fA；

● 恒壓或者恒流模式；

● 自動電流-電壓（I-V）測量、電流-時間（I-t）測量，自動保存。

低溫指標：

● 兼容MEMS加熱及電學芯片；

● 全溫區測量，溫度范圍：85 K- 380 K；

● 控溫穩定性：優于±0.1 K；

● 溫度連續可控。

以上就是提供的透射電鏡原位MEMS低溫電學測量系統，關于價格直接咨詢。

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