XRF9能量色散X射線熒光分析儀采用薄樣技術與厚樣技術相結合的方式，既可以對大量樣品進行無損檢測，也可以對塊狀固體，固體粉末和液體樣品等進行實驗室級別的元素分析。特別適宜于針對RoHS指令的多元素測試。

XRF9能量色散X射線熒光分析儀物理原理
當材料暴露在短波長X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢，足以驅逐內層軌道的電子，然而這使原子的電子結構不穩定，在外軌道的電子會“回補”進入低軌道，以*遺留下來的洞。在“回補”的過程會釋出多余的能源，光子能量是相等兩個軌道的能量差異的。因此，物質放射出的輻射，這是原子的能量特性。

特點：

· 采用多光束可調節系統

· 高分辨率探測器

· 采用XYZ三維運動樣品臺

· 大型樣品分析室

· CCD攝像及自動定位系統

· 自動調節雙層六通道濾光系統

主要技術指標

分析原理 能量色散X射線熒光分析法

分析元素 Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型）

Na～U(任選：φ1.2mm/φ0.1mm切換方式型）

檢出下限 Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm

樣品形狀 大460×380mm(高150mm)

樣品 塑料/金屬/紙/涂料/油墨/液體

樣品室氣氛 大氣

X射線管 靶材 Rh

管電壓 大50KV

管電流 大1mA

X射線照射徑 　 1/3/5mm

防護 <0.1mR/Hr (輻射低于電腦屏幕）

檢測器 硅SIPIN探測器

光學圖像觀察 　 倍率15倍

軟件 定性分析：自動定性（自動去背景/自動剝離重疊峰/自動補償逃逸峰/自動補償譜圖漂移）

照射徑： 1/3/5mm

定量分析： 基礎參數法/標準法/1點校正

計算機 CPU PentiumIV1.8GHz以上

內存 256MB以上

硬盤 20GB以上

OS WindowXP

監視器 17寸LCD

周圍溫度 10～35。C（性能溫度）/5～40。C（動作溫度）

周圍濕度 5～31。C時溫度范圍：大相對濕度80%以下

31～40。C時溫度范圍：相對濕度50%以下

電源 AC110V/220V±10%、50/60HZ

消耗電力 1.3KVA以下（含計算機、LCD、打印機）

設備重量 約65kg(不含桌子、計算機）

外形寸法 600（W）×545（D）×435（H）mm