一.優(yōu)質(zhì)供應(yīng)全反射X射線熒光光譜儀介紹
全反射X熒光（TXRF）分析技術(shù)是近年來才發(fā)展起來的多元素同時(shí)分析技術(shù)。TXRF利用全反射技術(shù)，使樣品熒光的雜散本底比X熒光能量色散譜儀（EXRF）本底降低約四個(gè)量級(jí)，從而大大提高了能量分辨率和靈敏度，避免了XRF測(cè)量中通常遇到的本底增強(qiáng)或減弱效應(yīng)；同時(shí)TXRF技術(shù)又繼承了EXRF方法的*性，成為一種不可替代的全新的元素分析方法。該技術(shù)被譽(yù)為在分析領(lǐng)域是有競(jìng)爭(zhēng)力的分析手段、在原子譜儀領(lǐng)域內(nèi)處于地位。
在X熒光譜儀范圍內(nèi)，與波長(zhǎng)色散譜儀（RF）方法比較，由于TXRF分析技術(shù)用樣量很少，也不需要制作樣品的煩瑣過程，又沒有本底增強(qiáng)或減弱效應(yīng)，不需要每次對(duì)不同的基體做不同的基體校準(zhǔn)曲線。另外由于使用內(nèi)標(biāo)法，對(duì)環(huán)境溫度等要求很低。因而在簡(jiǎn)便性、經(jīng)濟(jì)性、用樣量少等方面，都比RF方法有明顯的*性。
TXRF技術(shù)可以對(duì)從氧到鈾的所有元素進(jìn)行分析，一次可以對(duì)近30種元素進(jìn)行同時(shí)分析，這是原子吸收譜儀中的ETAAS和FAAS方法難以做到的。與質(zhì)譜儀中的ICP-MS和GDMS以及中子活化分析（NAA）等方法相比較，TXRF分析方法在快速、簡(jiǎn)便、經(jīng)濟(jì)、多元素同時(shí)分析、用樣量少、檢出限低、定量性好等方面有著綜合優(yōu)勢(shì)。
TXRF元素分析儀在元素分析領(lǐng)域內(nèi)的應(yīng)用現(xiàn)狀和發(fā)展前景都是令人鼓舞的。它可以廣泛應(yīng)用于地礦、冶金、化工、食品、生物、醫(yī)藥、環(huán)保、法檢、考古、高純材料等等各領(lǐng)域內(nèi)的常量、微量、痕量元素分析測(cè)定。特別在半導(dǎo)體工業(yè)中的硅片表面質(zhì)量控制方面，有著不可替代的優(yōu)勢(shì)，目前已在上得到廣泛應(yīng)用。
二.優(yōu)質(zhì)供應(yīng)全反射X射線熒光光譜儀應(yīng)用
1．地礦：金礦、銅精料和鎳精料、螢石、長(zhǎng)石、氧化銻 ；
2．冶金：鎳電解液、銅陽極泥、高冰鎳中的貴金屬、光譜Rh、金銀首飾、鑄鐵、軸承 ；
3．化工：柴油中的硫含量，各種催化劑，陶瓷釉藥；
4. 環(huán)境保護(hù) ：自來水、大氣飄塵、污水污泥；
5．生物：海洋動(dòng)物牙齒和體液 ；
6．醫(yī)藥：頭發(fā)和指甲中的有益有害元素，丹參中有害微量元素 ；
7．食品：飲料中有益和有害元素 ；
8．刑偵法醫(yī)：撞車現(xiàn)場(chǎng)樣品鑒定 。
三.主要特點(diǎn)
■ 單內(nèi)標(biāo)校正，有效簡(jiǎn)化了定量分析，無基體影響；
■ 對(duì)于任何基體的樣品可單獨(dú)進(jìn)行校準(zhǔn)和定量分析；
■ 多元素實(shí)時(shí)分析，可進(jìn)行痕量和超痕量分析；
■ 不受樣品的類型和不同應(yīng)用需求影響；
■ *的液體或固體樣品的微量分析，分析所需樣品量小；
■ 優(yōu)良的檢出限水平，元素分析范圍從鈉覆蓋到钚；
■ 的動(dòng)態(tài)線性范圍；
■ 無需任何化學(xué)前處理，無記憶效應(yīng)；
■ 非破壞性分析，運(yùn)行成本低廉。
四.應(yīng)用范圍
1、多元素同時(shí)分析：一次可分析近30種元素；
2、檢出限低：zui低檢出限：pg級(jí)（10-12）；zui低相對(duì)檢出限：ng/mL級(jí)（10-9）；
3、測(cè)量元素范圍廣：可以從11號(hào)元素Na到92號(hào)元素U；
樣品用量少， μL、μg級(jí)；
4、粉末樣品、懸浮液樣品、有平面的固體都可直接進(jìn)行分析，zui低檢出限達(dá)到ng/g量級(jí)。
5、可以進(jìn)行無損分析，也可進(jìn)行無標(biāo)樣分析；
6、測(cè)量時(shí)間短：一般在10秒－1000秒；
7、輸入功率：小于500W；
8、自動(dòng)化程度高，操作方便。
