本產(chǎn)品為濟(jì)南美特斯研發(fā)生產(chǎn)的CST-50沖擊試樣缺口夏比投影儀，如您有需求或任何想要咨詢的內(nèi)容，歡迎您隨時(shí)致電我司，我們將有專業(yè)的技術(shù)客服人員為您竭誠服務(wù)。以下是CST-50沖擊試樣缺口夏比投影儀的詳細(xì)內(nèi)容。

　用途與特點(diǎn)　
CST-50沖擊試樣缺口夏比投影儀是專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器。
本沖擊試樣缺口投影儀是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對(duì)，以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格，操作簡便，檢查對(duì)比直觀、效率高，是目前 切實(shí)可行、并能保證檢查質(zhì)量的方法，是相關(guān)理化試驗(yàn)室的儀器。

　主要技術(shù)參數(shù)　
1. 放大倍數(shù)：50×；
2. 投影屏尺寸：ф200mm;
3. 工作臺(tái)位移：縱向±10mm，橫向±10mm，升降±12mm(無刻度)；
4. 工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍：0～360о（無刻度）；
5. 光源：鹵鎢燈12V 100W;
6. 電源：200V 50HZ 150W;
7. 外形尺寸：515×224×603mm;
8. 重量： 約18kg。

　說明　　以上產(chǎn)品信息（圖片、參數(shù)等）僅供參考，請以實(shí)際設(shè)備為準(zhǔn)！垂詢電話：