概述
導波雷達物位計，可發射高頻率微波，沿著探桿傳播，由于遇到被測介質，介電常數突變，引起反射。發射脈沖與反射脈沖的時間間隔與被測量介質的距離成正比。同時，雷達物位計也可以測量兩種不同介質的界面，充分利用介質的介電常數的不同。但測量條件是上層介質不導電，或其介電常數比下層介質介電常數小10倍以上。脈沖的工作方式可測量小介電常數介質，并安全適用于各種金屬、非金屬容器內，對人體及環境無傷害。廣泛應用于煤廠、電廠、石油化工和食品等行業。
產品特點
可以測量介電常數大于等于1.4的大多數介質。
適用于測量粘稠液體，或溫度和壓力變化大的場合。
適用于測量明顯的揮發性氣體介質。
可用于泡沫、掛壁和結垢、表面波動、鼓泡或沸騰、高頻裝卸料、超低液位工況。
介電常數或比重變化的介質應用場合。
用于固體顆粒、粉末介質。
粉塵飛揚大的介質。
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導波雷達物位計，可發射高頻率微波，沿著探桿傳播，由于遇到被測介質，介電常數突變，引起反射。發射脈沖與反射脈沖的時間間隔與被測量介質的距離成正比。同時，雷達物位計也可以測量兩種不同介質的界面，充分利用介質的介電常數的不同。但測量條件是上層介質不導電，或其介電常數比下層介質介電常數小10倍以上。脈沖的工作方式可測量小介電常數介質，并安全適用于各種金屬、非金屬容器內，對人體及環境無傷害。廣泛應用于煤廠、電廠、石油化工和食品等行業。
產品特點
可以測量介電常數大于等于1.4的大多數介質。
適用于測量粘稠液體，或溫度和壓力變化大的場合。
適用于測量明顯的揮發性氣體介質。
可用于泡沫、掛壁和結垢、表面波動、鼓泡或沸騰、高頻裝卸料、超低液位工況。
介電常數或比重變化的介質應用場合。
用于固體顆粒、粉末介質。
粉塵飛揚大的介質。
