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開槽臺式微區(qū)XRF光譜儀M2 BLIZZARD

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公司名稱鉑悅儀器（上海）有限公司廣州辦事處
品牌
型號M2 BLIZZAR
所在地廣州市
廠商性質(zhì)代理商
更新時(shí)間2018/5/14 9:00:00
訪問次數(shù)506

產(chǎn)品標(biāo)簽:

鍍層測厚儀電鍍測厚儀 XRF測厚儀 X熒光光譜儀鍍層測厚儀

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公司介紹主營產(chǎn)品

鉑悅儀器自2004年成立以來，憑借與世界各大儀器的戰(zhàn)略合作關(guān)系，以及不斷優(yōu)化公司自身經(jīng)營管理，提高服務(wù)質(zhì)量，成為中國國內(nèi)的儀器供應(yīng)商。鉑悅儀器所提供的產(chǎn)品均屬于高科技行業(yè)，產(chǎn)品包括高精度的分析儀器、檢測儀器和生產(chǎn)設(shè)備，以及配套的耗材和配件，這些產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、工業(yè)、太陽能、醫(yī)藥、醫(yī)療器械、生物、能源、電子、石化等各個(gè)領(lǐng)域并服務(wù)于各大院校、研究所、檢測機(jī)構(gòu)、及政府部門等。

鉑悅儀器不僅擁有高品質(zhì)的產(chǎn)品，更培養(yǎng)了專業(yè)的銷售、技術(shù)和售后服務(wù)團(tuán)隊(duì)，本著客戶*的原則，從客戶的實(shí)際需求出發(fā)，鉑悅儀器為每一位客戶量身訂制Z適合的綜合解決方案，并提供持續(xù)而良好的售后服務(wù)，由此也獲得了廣大客戶的信任與認(rèn)可。

鉑悅儀器的總公司設(shè)立在上海，并在北京、廣州、成都、香港、加拿大設(shè)立了辦事處，在能及時(shí)引進(jìn)*進(jìn)技術(shù)的同時(shí)，保證了鉑悅儀器能快速、有效的為全國各地的客戶提供良好的服務(wù)。

企業(yè)文化： CREDIT

C- Confidence: 自信

R- Responsibility: 責(zé)任心

E- Efficiency: 效率

D-Diligence: 勤奮

I- Intelligence: 機(jī)智

T- Trust: 信任

展開顯示更多內(nèi)容

AFM探針及配件，X射線熒光測厚儀，防潮箱，壓片機(jī)，熔樣機(jī)，標(biāo)樣，層析板，SPIP三維圖像處理軟件，電鏡制樣設(shè)備及耗材，Vision顯微鏡，研磨拋光機(jī)，氣體分析儀

產(chǎn)品簡介在線詢價(jià)

開槽臺式微區(qū)XRF光譜儀M2 BLIZZARD

M2 BLIZZARD是布魯克公司推出的一款微區(qū)X射線熒光光譜儀，依據(jù)ASTMB568和DIN/ISO 3497，對材料成分和多層涂層厚度進(jìn)行無損分析。
采用開槽設(shè)計(jì)，非常適用于扁平形狀和尺寸過大的樣品，例如大型印刷電路板。
該儀器采用全新的、的XSpect Pro軟件進(jìn)行控制。

PCB 分析的理想解決方案
主要特性：
?開槽構(gòu)

開槽臺式微區(qū)XRF光譜儀M2 BLIZZARD 產(chǎn)品信息

開槽臺式微區(qū)XRF光譜儀M2 BLIZZARD

M2 BLIZZARD是布魯克公司推出的一款微區(qū)X射線熒光光譜儀，依據(jù)ASTMB568和DIN/ISO 3497，對材料成分和多層涂層厚度進(jìn)行無損分析。

采用開槽設(shè)計(jì)，非常適用于扁平形狀和尺寸過大的樣品，例如大型印刷電路板。

該儀器采用全新的、世界的XSpect Pro軟件進(jìn)行控制。

PCB 分析的理想解決方案

主要特性：

開槽構(gòu)型，帶可伸長的“超大尺寸”樣品臺
可以調(diào)節(jié)槽縫間隙（10或20毫米）
設(shè)有大型、耐用的樣品托盤，用于樣品定位
全新優(yōu)化XSpect Pro操作軟件
的XData軟件用于應(yīng)用程序，標(biāo)準(zhǔn)樣品與數(shù)據(jù)庫管理
可自定義設(shè)置用戶界面和測試結(jié)果界面
具備波譜自動(dòng)保存功能，用于測量后結(jié)果的再處理以及存檔
用戶設(shè)定公差，可以方便地判定“合格/不合格”
“峰值查找器”，用于定性分析未知樣品
軟件含有測試報(bào)告模板以供客戶編輯使用
配置工業(yè)強(qiáng)度的腳踏開關(guān)，用于“開始/停止”測量（可選項(xiàng)）
可*設(shè)置SPC軟件，配合客戶工藝需求（可選項(xiàng)）
儀器設(shè)計(jì)簡潔堅(jiān)固，只需一條USB電纜與PC連接

技術(shù)參數(shù)

M2 BLIZZARD的兩種探測器選項(xiàng)。可選用比例計(jì)數(shù)器（PC）或高分辨率硅漂移探測器（SDD）

參數(shù)	規(guī)格
激發(fā)	微焦點(diǎn)，高性能，帶側(cè)窗，鎢靶
高電壓	50 kV，50W
探測器	大面積正比計(jì)數(shù)器，感應(yīng)面積1100 mm ²，能量分辨率 < 950eV （Mn-Kа）
選配探測器	高性能Peltier冷卻XFlashR硅漂移探測器，感應(yīng)面積30mm2，能量分辨率 <150 eV （Mn-Kа）
光斑尺寸	固定或4個(gè)自由切換，?0.1到1.5mm 其他準(zhǔn)直器：例如槽式
樣品視圖	高分辨率彩色攝像系統(tǒng)，放大倍數(shù)~20倍
樣品臺	手動(dòng)塑料樣品托盤 Z軸自動(dòng)聚焦，行程: 30mm
定量分析	總體分析：基于標(biāo)樣的經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法模式，無標(biāo)樣的FP法（基本參數(shù)法）模式鍍層分析：FP-基本參數(shù)法模式
供電	110/230 VAC，50/60 Hz，zui大功率120W
尺寸（寬x深x高）	1055 x 688 x 430 mm
重量	75kg