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SENTECH-光譜橢偏儀 - (SENpro)

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產品型號SENpro

品       牌

廠商性質其他

所  在  地上海

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更新時間:2024-02-13 15:02:06瀏覽次數:560次

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產品簡介

光譜橢偏儀 SENpro 具有操作簡單,測量速度快,能對不同入射角的橢偏測量數據進行組合分析等特點。光譜范圍為 370 到 1050 nm。SENpro 的光譜范圍與精密的 SpectraRay/4 軟件相結合,可輕易地確定單層膜和復合層疊膜的厚度和折射率。

詳細介紹

成本效益

SENpro 是具成本效益的光譜橢偏儀,同時不影響測量性能。

可變入射角

光譜橢偏儀 SENpro 包括可變入射角的角度計,40°—90°,步進值 5°,用于優(yōu)化橢偏測量。

步進掃描分析器

SENpro 具有步進掃描分析器。在數據采集過程中,偏振器和補償器固定,以提供高的橢偏測量精度。

光譜橢偏儀 SENpro 具有操作簡單,測量速度快,能對不同入射角的橢偏測量數據進行組合分析等特點。光譜范圍為 370 到 1050 nm。SENpro 的光譜范圍與精密的 SpectraRay/4 軟件相結合,可輕易地確定單層膜和復合層疊膜的厚度和折射率。

具有成本效益的桌面式 SENpro 包括可見光到近紅外橢偏儀光學,5° 步進角度計,樣品臺、激光準直器、光纖耦合穩(wěn)定光源和探測器單元。SENpro 配備了用于系統(tǒng)控制和數據分析的光譜橢偏儀軟件 SpectraRay/4 ,用于包括建模,擬合和報告輸出。即使對于初學者,該程序文件操作都非常容易。SpectraRay/4 支持計算機控制的用于均勻性測量的自動掃描。

SENpro 專注于薄膜測量的速度和精度,不管是何種薄膜應用。測量范圍從 1 nm 的薄層膜到 15 μm 的厚層膜。

對于各種各樣的應用,SpectraRay/4 都提供了預定義的配方。


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