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山東川云界儀器有限公司
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葉片平均傾角
植物冠層圖像分析儀FK-G20
用于各種高度植物冠層的研究，利用魚眼鏡頭和CCD圖像傳感器獲取植物冠層圖像，通過專用分析軟件，獲得植物冠層的相關指標和參數。利用魚眼鏡頭成像測量植物冠層數據，只操作一次即可，簡化了傳統測量方法要一天定點多次測量的繁復工作，而且利用圖像法測量冠層可以主動避開不符合計算該冠層結構參數的冠層空隙部分，也可以躲開不符合測量計算的障礙物。
測量參數植物冠層圖象分析儀采用了冠層孔隙率與冠層結構相關的原理。它是根據光線穿過介質減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設前提的條件下，采用半理論半經驗的公式，通過冠層孔隙率的測定，計算出冠層結構參數。這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。在上述原理下， 植物冠層圖象分析儀采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法，該方法是各類方法中確和、省時、快捷方便的方法。
工作溫度：0～55℃
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