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深圳維爾克斯光電有限公司
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XP-T-2000系列國產透過率測試儀是一款全波長透過率測試儀，適用于手機蓋板IR孔、棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、太陽膜、濾光片等平面、光學元件及組合鏡頭等的檢測。
國產透過率測試儀，積分球采光，380-1100nm
我們提供的XP-T-2000系列國產透過率測試儀是全波長透過率測試儀，使用透射積分球采光，能夠快速測量透過率，并且能實時快速準確地測量各類平面、非平面等材料的透過率，還可用于實時顯示單、多點波長透過率和數據及波段平均透過率數據。適用于手機蓋板IR孔、棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、太陽膜、濾光片等平面、光學元件及組合鏡頭等的檢測。
系統特點：
我們提供的國產透過率測試儀的適用場景十分廣泛，在各種場景都可以使用，并且測量迅速，是可以在毫秒級時間內測量全譜信息的全波長透過率測試儀，并且使用的是積分球采光，可以測量待檢測樣品的透過率，還可設置檢測區間，十分方便。
- 快速全譜測量，可在毫秒級時間內測量全譜信息；
- 可以適應不同實驗環境，手套箱、實驗室、辦公室、車間均可以使用；
- 采用積分球采光，消除由樣品折射率、散射等因素引起的誤差；
- 軟件可設置透過率質檢區間，自動判斷NGOK等等。
技術參數：
| 儀器型號 | XP-T-2000 |
| 檢測范圍 | 380-1100nm |
| 探測器 | Hamamatsu面陣CCD |
| 探測器面積 | 28.672mm*0.896mm |
| 像元深度 | 200ke |
| 動態范圍 | 10000:1 |
| 透過率平臺 | 光程可調 |
| 光斑大小 | ≥0.6mm |
| 最小測量孔徑 | >1mm |
| 采光方式 | 透射積分球 |
| 信噪比（全信號） | 450:01:00 |
| 測量重復性 | 優于0.2%（400-1000nm） |
| 檢出限 | 0.10% |
| 單次測量時間 | <1秒 |
| 光源功率 | 0-100W，可調 |
| 操作系統/接口 | Windows7/8/10 |
| 電源/功率 | 220V-50Hz/6W |
| 光譜軟件 | 專用透過率光譜軟件，允許用戶注釋圖，能在線實時輸出數據，反射兼顧輸出CIE顏色參數，自定義打印測試報告； |
| 附件 | 備用燈泡2個 |
我們作為集研發、生產、服務于一體的高科技公司，致力于為客戶提供技術產品和服務，擁有多年光譜快速檢測經驗，為物理光電、功能材料、化學化工、環境科學、食品科學、生命科學、農學等不同領域提供數以百計的測量方案，尤其在QLED、OLED、PLED、MircoLED、LED、量子點發光材料、熒光粉、光色電測量領域獲得了豐富的案例，以準為本，客戶思維，科技至上，至誠至堅，合作共贏，建設高效、快速為一體測量解決方案。
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